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集成型和特殊功能数据转换器
CCD 和 CIS 成像 AFE

LM98640QML-SP

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具有 LVDS 输出的双通道、14 位、40MSPS 模拟前端

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LM98640QML-SP

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Resolution (bps) 14 Number of channels 2 Sample rate (Msps) 40 Gain (min) (dB) -3.8 Gain (max) (dB) 18.4 Pd (typ) (mW) 356 Supply voltage (max) (V) 3.3 Operating temperature range (°C) -55 to 125 Output data format LVDS Rating Space
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CFP (NBB) 68 582.2569 mm² 24.13 x 24.13
  • 耐辐射
    • TID 100krad(Si)
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于 LET 的抗扰度 = 120MeV-cm2/mg
    • 在高达 120MeV-cm2/mg 的条件下无单粒子功能中断 (SEFI)
    • SMD 5962R1820301VXC
  • ADC 分辨率：14 位
  • ADC 采样速率：5MSPS 至 40MSPS
  • 输入电平：2.85V
  • 电源电压 3.3V 和 1.8V（标称值）
    • 15MSPS 时的每通道功耗为 125mW
    • 40MSPS 时的每通道功耗为 178mW
  • 针对 CCD 或 CIS 传感器的 CDS 或 S/H 处理
    • CDS 或 S/H 增益为 0dB 或 6dB
  • 每个通道具有可编程模拟增益
    • 256 步；范围 –3dB 至 18dB
  • 可编程模拟失调电压校正
    • 精细和粗略 DAC 分辨率 ±8 位
    • 精细 DAC 范围 ±5mV
    • 粗略 DAC 范围 ±250mV
  • 可编程输入钳位电压
  • 可编程采样边沿：1/64 像素周期
  • 15MHz 时的 INL：±3.5LSB
  • 本底噪声：–79dB
  • 串扰：–80dB
  • 工作温度：–55°C 至 125°C
  • 耐辐射
    • TID 100krad(Si)
    • 单粒子锁定 (SEL) 对于 LET 的抗扰度 = 120MeV-cm2/mg
    • 在高达 120MeV-cm2/mg 的条件下无单粒子功能中断 (SEFI)
    • SMD 5962R1820301VXC
  • ADC 分辨率：14 位
  • ADC 采样速率：5MSPS 至 40MSPS
  • 输入电平：2.85V
  • 电源电压 3.3V 和 1.8V（标称值）
    • 15MSPS 时的每通道功耗为 125mW
    • 40MSPS 时的每通道功耗为 178mW
  • 针对 CCD 或 CIS 传感器的 CDS 或 S/H 处理
    • CDS 或 S/H 增益为 0dB 或 6dB
  • 每个通道具有可编程模拟增益
    • 256 步；范围 –3dB 至 18dB
  • 可编程模拟失调电压校正
    • 精细和粗略 DAC 分辨率 ±8 位
    • 精细 DAC 范围 ±5mV
    • 粗略 DAC 范围 ±250mV
  • 可编程输入钳位电压
  • 可编程采样边沿：1/64 像素周期
  • 15MHz 时的 INL：±3.5LSB
  • 本底噪声：–79dB
  • 串扰：–80dB
  • 工作温度：–55°C 至 125°C

LM98640QML-SP 是一种完全集成的高性能 14 位 5MSPS 至 40MSPS 信号处理解决方案。串行 LVDS 输出格式在单粒子曝光期间表现良好，可防止数据丢失。LM98640QML-SP 具有自适应功率调节功能，可根据工作频率和所需增益量优化功耗。借助创新型架构，并利用相关双采样 (CDS) 技术 - 通常用于 CCD 阵列或采样保持 (S/H) 输入（用于 CIS 和 CMOS 图像传感器），可实现高速信号吞吐量。采样边沿可编程为 1/64 像素周期的分辨率。CDS 和 S/H 都具有 0dB 或 6dB 的可编程增益。信号路径使用两个 ±8 位失调电压校正 DAC 进行粗略和精细的失调电压校正，并使用可为每个输入独立编程的 8 位可编程增益放大器 (PGA)。然后，信号将传送至两个片上 14 位 40MHz 高性能模数转换器 (ADC)。全差分处理通道提供卓越的抗噪能力，在 1 倍增益下具有 –79dB 的极低本底噪声。

LM98640QML-SP 是一种完全集成的高性能 14 位 5MSPS 至 40MSPS 信号处理解决方案。串行 LVDS 输出格式在单粒子曝光期间表现良好，可防止数据丢失。LM98640QML-SP 具有自适应功率调节功能，可根据工作频率和所需增益量优化功耗。借助创新型架构，并利用相关双采样 (CDS) 技术 - 通常用于 CCD 阵列或采样保持 (S/H) 输入（用于 CIS 和 CMOS 图像传感器），可实现高速信号吞吐量。采样边沿可编程为 1/64 像素周期的分辨率。CDS 和 S/H 都具有 0dB 或 6dB 的可编程增益。信号路径使用两个 ±8 位失调电压校正 DAC 进行粗略和精细的失调电压校正，并使用可为每个输入独立编程的 8 位可编程增益放大器 (PGA)。然后，信号将传送至两个片上 14 位 40MHz 高性能模数转换器 (ADC)。全差分处理通道提供卓越的抗噪能力，在 1 倍增益下具有 –79dB 的极低本底噪声。
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* 数据表 具有 LVDS 输出的 LM98640QML-SP 抗辐射加固 (RHA) 型、双通道、14 位、40MSPS 模拟前端 数据表 (Rev. G) PDF | HTML 英语版 (Rev.G) PDF | HTML 2019年 2月 7日
* SMD LM98640QML-SP SMD 5962-18203 2020年 9月 22日
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* 辐射与可靠性报告 LM98640W-MLS SEE Report 2012年 5月 14日
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LM98640CVAL — 具有 LVDS 输出的双通道、14 位、40 MSPS 模拟前端

The LM98640CVAL Board is designed to allow quick evaluation and design development of National Semiconductor's LM98640QML Analog Front End. This development board is designed to function in several different configurations.

The primary configuration connects the LM98640QML evaluation board to (...)

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  • 制造厂地点
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