SN54AC00-SP
- 5962R87549:
- 抗辐射加固保障 (RHA) 高达 100 krad (Si) 总电离剂量 (TID)
- SEL 抗扰度为 86 MeV×cm2/mg
- 5962-87549:
- 总电离剂量为 50 krad (Si)
- 2 V 至 6 V VCC 运行
- 输入电压高达 6 V
- 5V 时 tpd 最大值为 7 ns
SN54AC00 器件包含四个独立双输入与非门。每个逻辑门以正逻辑执行布尔函数 Y = A • B 或 Y = A + B。
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功能与比较器件相同,但引脚排列有所不同
技术文档
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* | 数据表 | SN54AC00-SP 抗辐射加固型四路 2 输入与非门 数据表 (Rev. C) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.C) | PDF | HTML | 2022年 5月 24日 |
* | 辐射与可靠性报告 | 54AC00-SP Radiation Assured Devices | 2016年 4月 21日 |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点