SN74HC4851
- 注入电流交叉耦合 <1mV/mA(请参阅应用信息 中的)
- 低开关间串扰
- 端子与 SN74HC4051、SN74LV4051A 和 CD4051B 器件兼容
- 2V 至 5.5V VCC 运行
- 闩锁性能超过 100mA,符合 JESD 78 II 类规范的要求
这款八通道 CMOS 模拟多路复用器/多路解复用器的端子与 ’4051 器件的功能兼容,并具有注入电流效应控制功能,此控制功能在电压通常超过正常电源电压的汽车应用中具有出色的价值。
注入电流效应控制功能允许已禁用的模拟输入通道上的信号超过电源电压,而不会影响已启用的模拟通道的信号。由于具备这一特性,不再需要通常使用的外部二极管/电阻器网络将模拟通道信号保持在电源电压范围内。
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接口适配器
LEADED-ADAPTER1 — 用于快速测试 TI 5、8、10、16 和 24 引脚引线式封装的表面贴装转 DIP 接头适配器
EVM-LEADED1 板可对 TI 的常见引线式封装进行快速测试和电路板试验。该评估板具有足够的空间,可将 TI 的 D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV 和 PW 表面贴装封装转换为 100mil DIP 接头。
用户指南: PDF
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
PDIP (N) | 16 | Ultra Librarian |
SOIC (D) | 16 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
TVSOP (DGV) | 16 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点
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