主要输入参数 | 主要输出信号 | 推荐器件 |
---|---|---|
SPI 或 I2C 通信 | 0mA 至 300mA 可编程 LED 电流 | DAC530A2W、DAC532A3W、AFE532A3W、AFE432A3W |
目标:使用可编程电流源对 LED 进行偏置。
本设计采用缓冲电压和电流输出智能数模转换器 (DAC),比如 DAC530A2W 或 DAC532A3W (DAC53xAxW),来偏置发光二极管 (LED)。DAC53xAxW 上的电流输出 DAC (IDAC) 可提供高达 300mA 的电流,来偏置高电流 LED。DAC53xAxW 具有通用输入输出 (GPIO) 引脚,可在两个电流值之间切换 LED,或开关 LED。DAC53xAxW 的电压通道可配置为比较器,来监控 LED 电压(VLED),从而实现独立于软件的故障管理。比较器的输出可以连接到 DAC53xAxW GPIO 引脚,以在 VLED 超出范围时关闭 IDAC。所有寄存器设置均可保存到智能 DAC 的非易失性存储器 (NVM),这意味着可在无处理器时使用器件,即使在下电上电后也是如此。该电路可用于体外诊断、内窥镜和数字显微镜等应用。
可以在 DAC-2-GAIN-CONFIG 寄存器的 IOUT-GAIN 字段中将 DAC530A2W IDAC 通道配置为 300mA 或 220mA 输出范围。此应用使用 300mA 范围。
此原理图用于 DAC530A2W 的以下设计结果。根据原理图上标记的测试点,测量 VLED 和 ILED。
下表显示了此应用的示例寄存器映射。此处给出的值适用于在设计说明部分作出的设计选择。
寄存器 地址 | 寄存器名称 | 设置 | 说明 |
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0x03 | DAC-2-GAIN-CONFIG | 0x0000 | [15:13] 0b000:无关 |
[12:10] 0b000:选择 2/3 增益 | |||
[9:0] 0x00:无关 | |||
0x15 | DAC-1-GAIN-CMP-CONFIG | 0x040D | [15:13] 0b0:无关 |
[12:10] 0b001:将 REF-GAIN-1 设置为 1 × VDD | |||
[9:5] 0b0:无关 | |||
[4] 0b0:将比较器输出引脚设置为推挽输出 | |||
[3] 0b1:启用比较器输出 | |||
[2] 0x1:将比较器输入引脚设置为有限阻抗 | |||
[1] 0x0:不反转比较器输出 | |||
[0] 0x1:启用比较器模式 | |||
0x19 | DAC-2-DATA | 0x5740 | [15:6] 0x2DD:10 位 IDAC 代码 |
[5:0] 0x0:无关 | |||
0x1C | DAC-1-DATA | 0x4D80 | [15:6] 0x136:10 位比较器阈值 |
[5:0] 0x0:无关 | |||
0x1F | COMMON-CONFIG | 0x13F9 | [15] 0b0:写入 0b0,将窗口比较器输出设置为非锁存输出 |
[14] 0b0:器件未锁定 | |||
[13] 0b0:故障转储读取使能位于地址 0x00 处 | |||
[12] 0b1:启用内部基准 | |||
[11:10] 0b00:为 VOUT1 上电 | |||
[9] 0b1:保留。始终写入 1 | |||
[8:7] 0b11:保留。始终写入 0b11 | |||
[6:3] 0xF:保留。始终写入 0xF | |||
[2:1] 0b00:为 IDAC2 上电 | |||
[0] 0b1:保留。始终写入 1 | |||
0x20 | COMMON-TRIGGER | 0x0002 | [15:12] 0b0000:写入 0b0101,解锁器件 |
[11:8] 0b0000:写入 0b1010,触发 POR 复位 | |||
[7] 0b0:不触发 LDAC | |||
[6] 0b0:不触发 DAC 清除 | |||
[5] 0b0:无关 | |||
[4] 0b0:不触发故障转储 | |||
[3] 0b0:不触发 PROTECT 功能 | |||
[2] 0b0:不触发故障转储读取 | |||
[1] 0b1:写入 0b1,将适用寄存器设置存储到 NVM | |||
[0] 0b0:不触发 NVM 重新加载。写入 0b1,使用现有 NVM 设置重新加载适用寄存器 | |||
0x24 | GPIO-CONFIG | 0x002F | [15] 0b0:为 GP 输入禁用干扰滤波器 |
[14] 0b0:无关 | |||
[13] 0b0:禁用 GPIO 引脚的输出模式 | |||
[12:9] 0b0000:选择映射到 GPIO 作为输出的 STATUS 功能设置 | |||
[8:5] 0b0001:在通道 2 上启用 GPI 功能 | |||
[4:1] 0b0111:GP 输入配置为触发清除 | |||
[0] 0b1:启用 GPIO 引脚的输入模式 |
下面所示为将初始寄存器值编程到 DAC530A2W 的 NVM 的伪代码序列。此处给出的值适用于在设计说明部分作出的设计选择。
DAC530A2W 伪代码示例
//SYNTAX: WRITE <REGISTER NAME (Hex Code)>, <MSB DATA>, <LSB DATA>
//Set IDAC gain setting to 2/3
WRITE DAC-2-GAIN-CONFIG(0x03), 0x00, 0x00
//Write DAC code for nominal IDAC output
//The 10-bit hex code for 250mA is 0x2DD. With 16-bit left alignment, this becomes 0xB740
WRITE DAC-2-DATA(0x19), 0x57, 0x40
//Set VOUT1 gain setting to 1× VDD (3.3V), enable comparator mode, enable comparator output, disable Hi-z input
WRITE DAC-1-GAIN-CMP-CONFIG(0x15), 0x04, 0x0D
//For a 3.3V output range, the 10bit hex code for 1V is 0x136. With 16-bit left alignment, this becomes 0x4D80
WRITE DAC-1-DATA(0x1C), 0x4D, 0x80
//Power-up output on IDAC and VDAC channels, enables internal reference
WRITE COMMON-CONFIG(0x1F), 0x13, 0xF9
//Configure GPI for clear trigger for IDAC channel
WRITE GPIO-CONFIG(0x24), 0x00, 0x2F
//Save settings to NVM
WRITE COMMON-TRIGGER(0x20), 0x00, 0x02
器件 | 主要特性 | 链接 |
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DAC530A2W | 具有监控器比较器或 VDAC 通道、NVM 和 GPIO 的 10 位 300mA 电流源 DAC | DAC530A2W |
DAC532A3W | 具有 10 位电压输出 DAC、监控器比较器、NVM 和 GPI 的 10 位 300mA 电流源 DAC | DAC532A3W |
AFE532A3W | 具有 10 位 SAR ADC、10 位 VDAC、NVM 和 GPI 的 10 位 300mA 电流源 DAC | AFE532A3W |
AFE432A3W | 具有 10 位 SAR ADC、VDAC、NVM 和 GPI 的 8 位 300mA 电流源 DAC | AFE432A3W |
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