AFE1256

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适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)

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Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
COF (TDS) 314 1064 mm² 38 x 28 DIESALE (TD) See data sheet
  • 256 个通道
  • 片上 16 位模数转换器 (ADC)
  • 光电二极管抗短路
  • 数据线(列)抗短路
  • 高性能:
    • 噪声:758 electronRMS (eRMS),1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
    • 积分非线性:
      内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小扫描时间:
      • 正常模式下为 37.9µs
      • 2x 双像素模式下为 20µs
  • 集成:
    • 8 个可选满量程范围:
      0.15pC(最小值)至 9.6pC(最大值)
    • 内置相关双采样器
    • 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式(两个相邻通道的平均充电)
    • 管道式积分和读取:积分期间允许数据读取
  • 灵活性:
    • 电子和空穴积分
  • 低功耗:
    • 具有 ADC 时,每通道 2.9mW
    • 无 ADC 时,每通道 2.3mW
    • 打盹模式时,每通道 0.1mW
    • 总断电特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片,
    适用于带载封装 (TCP) 和 覆晶薄膜封装 (COF)

应用范围

    平板 X 射线检测器

All trademarks are the property of their respective owners.

  • 256 个通道
  • 片上 16 位模数转换器 (ADC)
  • 光电二极管抗短路
  • 数据线(列)抗短路
  • 高性能:
    • 噪声:758 electronRMS (eRMS),1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
    • 积分非线性:
      内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 最小扫描时间:
      • 正常模式下为 37.9µs
      • 2x 双像素模式下为 20µs
  • 集成:
    • 8 个可选满量程范围:
      0.15pC(最小值)至 9.6pC(最大值)
    • 内置相关双采样器
    • 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式(两个相邻通道的平均充电)
    • 管道式积分和读取:积分期间允许数据读取
  • 灵活性:
    • 电子和空穴积分
  • 低功耗:
    • 具有 ADC 时,每通道 2.9mW
    • 无 ADC 时,每通道 2.3mW
    • 打盹模式时,每通道 0.1mW
    • 总断电特性
  • 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片,
    适用于带载封装 (TCP) 和 覆晶薄膜封装 (COF)

应用范围

    平板 X 射线检测器

All trademarks are the property of their respective owners.

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE),此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。此器件包括 256 个积分器,一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA),一个具有双组的相交双采样器 (CDS),256:4 模拟复用器和四个板载 16 位,逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC 提供格式为 SPI的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分,并在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗。这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

该器件可以 22mm × 5mm 凸出式金属接点芯片形式提供,也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封装。

如需完整数据表或其他设计资源,请点击:请求获取 AFE1256

AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE),此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。此器件包括 256 个积分器,一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA),一个具有双组的相交双采样器 (CDS),256:4 模拟复用器和四个板载 16 位,逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC 提供格式为 SPI的串行数据。

硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分,并在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗。这一节电特性特别适合于电池供电类系统。

该器件可以 22mm × 5mm 凸出式金属接点芯片形式提供,也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封装。

如需完整数据表或其他设计资源,请点击:请求获取 AFE1256

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类型 标题 下载最新的英语版本 日期
* 数据表 AFE1256 用于数字 X 射线平板探测器、的 256 通道模拟前端 数据表 (Rev. D) PDF | HTML 英语版 (Rev.D) PDF | HTML 2016年 6月 24日

订购和质量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件标识
  • 引脚镀层/焊球材料
  • MSL 等级/回流焊峰值温度
  • MTBF/时基故障估算
  • 材料成分
  • 鉴定摘要
  • 持续可靠性监测
包含信息:
  • 制造厂地点
  • 封装厂地点

支持和培训