AFE1256
- 256 个通道
- 片上 16 位模数转换器 (ADC)
- 光电二极管抗短路
- 数据线(列)抗短路
- 高性能:
- 噪声:758 electronRMS (eRMS),1.2pC 范围内的 28pF 传感器电容器
- 积分非线性:
内部 16 位 ADC 的 ±2 最低有效位 (LSB) - 最小扫描时间:
- 正常模式下为 37.9µs
- 2x 双像素模式下为 20µs
- 集成:
- 8 个可选满量程范围:
0.15pC(最小值)至 9.6pC(最大值) - 内置相关双采样器
- 针对更快速数据吞吐量的 2x 双像素模式(两个相邻通道的平均充电)
- 管道式积分和读取:积分期间允许数据读取
- 8 个可选满量程范围:
- 灵活性:
- 电子和空穴积分
- 低功耗:
- 具有 ADC 时,每通道 2.9mW
- 无 ADC 时,每通道 2.3mW
- 打盹模式时,每通道 0.1mW
- 总断电特性
- 22mm x 5mm 凸出式金属接点芯片,
适用于带载封装 (TCP) 和 覆晶薄膜封装 (COF)
应用范围
平板 X 射线检测器
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AFE1256 是一款 256 个通道模拟前端 (AFE),此器件被设计成满足基于平板检测器 (FPD) 的数字 X 射线系统的的要求。此器件包括 256 个积分器,一个用于满量程充电电平选择的可编程增益放大器 (PGA),一个具有双组的相交双采样器 (CDS),256:4 模拟复用器和四个板载 16 位,逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。ADC 提供格式为 SPI的串行数据。
硬件可选积分极性可实现正或负电荷积分,并在系统设计中提供更多的灵活性。此打盹特性大大节省了能耗。这一节电特性特别适合于电池供电类系统。
该器件可以 22mm × 5mm 凸出式金属接点芯片形式提供,也提供 38mm × 28mm、COF-314 TDS 封装。
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* | 数据表 | AFE1256 用于数字 X 射线平板探测器、的 256 通道模拟前端 数据表 (Rev. D) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.D) | PDF | HTML | 2016年 6月 24日 |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点