ISO6720-Q1
- 提供功能安全
- 可提供用于功能安全系统设计的文档:ISO6720-Q1、ISO6721-Q1
- 具有符合 AEC-Q100 标准的下列特性:
- 器件温度等级 1:–40°C 至 +125°C 环境工作温度范围
- 满足 VDA320 隔离要求
- 50Mbps 数据速率
- 稳健可靠的隔离栅:
- 在 1060VRMS 工作电压下具有长工作寿命
- 隔离等级高达 5000VRMS
- CMTI 典型值为 ±150kV/µs
- 宽电源电压范围:1.71V 到 1.89V 和 2.25V 到 5.5V
- 1.71V 至 5.5V 电平转换
- 默认输出高电平 (ISO672x-Q1) 和低电平 (ISO672xF-Q1) 选项
- 1Mbps 时的每通道电流典型值为 1.8mA
- 低传播延迟:11ns(典型值)
- 优异的电磁兼容性 (EMC)
- 系统级 ESD、EFT 和浪涌抗扰性
- 在整个隔离栅具有 ±8kV IEC 61000-4-2 接触放电保护
- 低干扰 (EMI)
- 窄 SOIC (D-8) 和宽 SOIC (DWV-8) 封装
- 安全相关认证:
- DIN VDE V 0884-11:2017-01
- UL 1577 组件认证计划
- IEC 62368-1、IEC 61010-1、IEC 60601-1
- GB 4943.1-2011
ISO672x-Q1 器件是高性能双通道数字隔离器,可提供符合 UL 1577 的 5000VRMS(DWV 封装)和 3000VRMS(D 封装)隔离额定值,非常适合具有此类需求的成本敏感型应用。这些器件还通过了 VDE、TUV、CSA 和 CQC 认证。
在隔离 CMOS 或 LVCMOS 数字 I/O 的同时, ISO672x-Q1 器件可提供高电磁抗扰度和低辐射,同时具备低功耗特性。每条隔离通道的逻辑输入和输出缓冲器均由 TI 的双电容二氧化硅 (SiO2) 绝缘栅相隔离。 ISO6720-Q1 器件具有 2 条同向隔离通道。 ISO6721-Q1 器件具有 2 条反向隔离通道。如果输入功率或信号出现损失,不带后缀 F 的器件默认输出高电平,带后缀 F 的器件默认输出低电平。更多详细信息,请参见器件功能模式部分。
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功能与比较器件相同,但引脚排列有所不同
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评估板
DIGI-ISO-EVM — 通用数字隔离器评估模块
DIGI-ISO-EVM 是一个评估模块 (EVM),用于评估 TI 采用以下五种不同封装的任何单通道、双通道、三通道、四通道或六通道数字隔离器器件:8 引脚窄体 SOIC (D)、8 引脚宽体 SOIC (DWV)、16 引脚宽体 SOIC (DW)、16 引脚超宽体 SOIC (DWW) 和 16 引脚 QSOP (DBQ) 封装。此 EVM 具有足够的 Berg 引脚选项,支持使用超少的外部元件来评估相应器件。
评估板
ISO6721DEVM — ISO672x 通用、双通道、数字隔离器评估模块
ISO6721DEVM 是一款用于评估 ISO6721 的评估模块,而 ISO6721 是采用 8 引脚 SOIC 封装(封装代码 D)且 EMC 性能优异的低速通用双通道数字隔离器。此 EVM 具有足够的测试点和跳线选项,支持使用最少的外部组件来评估相应器件。
封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
---|---|---|
SOIC (D) | 8 | Ultra Librarian |
SOIC (DWV) | 8 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点
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