TPD4E110
- 为低压输入输出 (IO) 接口提供系统级静电放电 (ESD) 保护
- IO 电容值 0.45pF（典型值）
- IEC 61000-4-2 4 级
- ±12kV（接触放电）
- ±15kV（空气间隙放电)
- IEC 61000-4-5（浪涌）：2.5A (8/20µs)
- 直流击穿电压 6.5V（最小值）
- 超低泄露电流 1nA（最大值）
- 低 ESD 钳位电压
- 工业温度范围：-40°C 至 125°C
- 最大限度减少空间的 0.8mm x 0.8mm DPW 封装
应用范围
- USB 3.0
- HDMI 2.0
- 低压差分信令 (LVDS)
- DisplayPort
- PCI Express 接口
- eSata 接口
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TPD4E110 是一款具有超低电容值的单向静电放电 (ESD) 保护器件。 此器件由一个中央 ESD 钳位组成，并且在每个通道中特有两个隐藏的二极管，以减少电容负载。 每条通道额定 ESD 冲击消散值高于 IEC61000-4-2 4 级国际标准中规定的最高水平。 TPD4E110 的超低负载电容值使得此器件非常适合于保护高速信号引脚。
技术文档
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | 数据表 | TPD4E110 4 通道保护解决方案，用于超高速（高达 6GBPS）接口 数据表 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2014年 5月 12日 |
| 应用手册 | 用于 USB 接口的 ESD 和浪涌保护 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2024年 1月 23日 | |
| 应用简报 | 针对 HDMI 应用的 ESD 保护 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2023年 11月 9日 | |
| 应用手册 | ESD 包装和布局指南 (Rev. B) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2022年 9月 14日 | |
| 选择指南 | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| 白皮书 | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 |
设计和开发
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评估板
ESDEVM — ESD 评估模块
静电敏感器件 (ESD) 评估模块 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 米6体育平台手机版_好二三四系列的开发平台。为了测试任何型号的器件，该电路板支持所有传统的 ESD 封装结构。器件可以焊接到相应封装结构，然后进行测试。如果是典型的高速 ESD 二极管，则应采用阻抗受控布局来获取 S 参数并剥离电路板引线。如果是非高速 ESD 二极管，则应采用有布线连接到测试点的封装结构，以便轻松运行直流测试，例如击穿电压、保持电压、漏电流等。该电路板布局布线还可以通过将信号引脚短接至信号所在的位置，轻松地将任何器件引脚连接到电源 (VCC) 或地。
| 封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
|---|---|---|
| X2SON (DPW) | 4 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息：
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息：
- 制造厂地点
- 封装厂地点
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