ホーム データ・コンバータ 統合型やスペシャル・ファンクションの各データ・コンバータ 医療用 AFE デジタル X 線向け AFE

AFE2256

アクティブ

デジタル X 線フラットパネル検出器向け 256 チャネル アナログ フロント エンド (AFE)

この製品には新バージョンがあります。

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと類似の機能
AFE3256 アクティブ X 線フラットパネルのダイナミック検出器とセミダイナミック検出器向け、256 チャンネル、アナログ フロント エンド (AFE) Higher integration, fast scan time

製品詳細

Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
Number of input channels 256 Resolution (Bits) 16 Features Internal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray Interface type SPI/LVDS Operating temperature range (°C) 0 to 85 Rating Catalog
COF (TBN) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDR) 325 1039.525 mm² 48.35 x 21.5 COF (TDU) 320 1064 mm² 38 x 28
  • 256 チャネル
  • オンチップ、16 ビット ADC
  • フォトダイオード短絡への耐性
  • 高性能:
    • ノイズ:750 電子 RMS (1.2pC 入力電荷範囲)
    • 低い相互関連ノイズ
    • 積分非直線性内部 16 ビット ADC で ±2 LSB
    • スキャン時間:< 20µs~204.8µs
  • 積算:
    • 6 つの選択可能でフルスケール入力:0.6pC (最小値)~9.6pC (最大値)
    • 内部タイミング ジェネレータ (TG)
    • 内蔵の相互関連付けダブル サンプラー
    • パイプライン化された積算と読み取りによるスループット向上 - 積算中にデータを読み取り
    • シリアル LVDS 出力
  • 単純な電源方式:
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低い消費電力
  • ナップおよび完全パワー ダウン モード
  • カスタム COF (Chip-On-Film) パッケージ
  • 256 チャネル
  • オンチップ、16 ビット ADC
  • フォトダイオード短絡への耐性
  • 高性能:
    • ノイズ:750 電子 RMS (1.2pC 入力電荷範囲)
    • 低い相互関連ノイズ
    • 積分非直線性内部 16 ビット ADC で ±2 LSB
    • スキャン時間:< 20µs~204.8µs
  • 積算:
    • 6 つの選択可能でフルスケール入力:0.6pC (最小値)~9.6pC (最大値)
    • 内部タイミング ジェネレータ (TG)
    • 内蔵の相互関連付けダブル サンプラー
    • パイプライン化された積算と読み取りによるスループット向上 - 積算中にデータを読み取り
    • シリアル LVDS 出力
  • 単純な電源方式:
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低い消費電力
  • ナップおよび完全パワー ダウン モード
  • カスタム COF (Chip-On-Film) パッケージ

AFE2256 は、フラットパネル検出器 (FPD) ベースのデジタル x 線システムの要件を満たすように設計された 256 チャネルのアナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスには 256 の積分器、デュアル バンキング搭載フルスケール充電レベル選択用のプログラマブル ゲイン アンプ (PGA)、相関ダブル サンプラー 、256:4 のアナログ マルチプレクサが搭載されています。

また、このデバイスには 4 つの 16 ビット逐次比較型 (SAR) アナログ/デジタル コンバータ (ADC) も内蔵されています。ADC からのシリアル データは、低電圧差動信号 (LVDS) 形式で利用可能です。

ナップおよびパワー ダウン モードにより大幅な電力削減が可能であり、バッテリ動作のシステムでは特に有用です。

完全なデータシートや、その他の設計資料のご請求には、AFE2256 を請求してください

AFE2256 は、フラットパネル検出器 (FPD) ベースのデジタル x 線システムの要件を満たすように設計された 256 チャネルのアナログ フロント エンド (AFE) です。このデバイスには 256 の積分器、デュアル バンキング搭載フルスケール充電レベル選択用のプログラマブル ゲイン アンプ (PGA)、相関ダブル サンプラー 、256:4 のアナログ マルチプレクサが搭載されています。

また、このデバイスには 4 つの 16 ビット逐次比較型 (SAR) アナログ/デジタル コンバータ (ADC) も内蔵されています。ADC からのシリアル データは、低電圧差動信号 (LVDS) 形式で利用可能です。

ナップおよびパワー ダウン モードにより大幅な電力削減が可能であり、バッテリ動作のシステムでは特に有用です。

完全なデータシートや、その他の設計資料のご請求には、AFE2256 を請求してください

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ
詳細リクエスト

NDA 締結下で、詳細なデータシートやその他の設計リソースを用意しています。 ご請求  

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
3 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート AFE2256 256 チャネル、デジタル X 線フラットパネル検出器用アナログ フロント エンド データシート (Rev. C 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.C) PDF | HTML 2024年 1月 12日
Analog Design Journal Selecting a multichannel ultra-low-current measurement IC PDF | HTML 2022年 3月 18日
技術記事 Advancements in X-ray imaging PDF | HTML 2017年 3月 28日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

AFE2256EVM — AFE2256 デジタル X 線フラットパネル検出器向け 256 チャネル AFE の評価基板

AFE2256EVM は、256 チャネルのアナログ フロント エンドである AFE2256 COF を評価するためのコンパクトな USB ベース評価キットです。この EVM は DAC と発電機能をオンボード搭載した自己完結型であるため、必要な外部機器が大幅に少なくなります。このキットは、1 個の EVM と 2 個の独立型 COF アダプタで構成され、COF デバイスの性能を簡単に評価できるソフトウェアが付属しています。COF アダプタは取り外し可能なので、1 つの EVM セットアップを使用して複数の COF アダプタを評価できます。USB 2.0 (...)

ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・ツール

PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®

PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。

設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
COF (TBN) 325 Ultra Librarian
COF (TDR) 325 Ultra Librarian
COF (TDU) 320 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ