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SN74AHC123A-EP

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エンハンスド製品、デュアル、再トリガ可能、モノステーブル・マルチバイブレータ

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SN74AHC123A-EP

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製品詳細

Number of channels 2 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Technology family AHC Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Supply current (µA) 40 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Retriggerable Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
Number of channels 2 Supply voltage (min) (V) 2 Supply voltage (max) (V) 5.5 Technology family AHC Input type Schmitt-Trigger Output type Push-Pull Supply current (µA) 40 IOL (max) (mA) 8 IOH (max) (mA) -8 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Over-voltage tolerant inputs, Retriggerable Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating HiRel Enhanced Product
SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operating Range 2-V to 5.5-V VCC
  • Schmitt-Trigger Circuitry On A, B, and CLR Inputs for Slow Input Transition Rates
  • Edge Triggered From Active-High or Active-Low Gated Logic Inputs
  • Retriggerable for Long Output Pulses
  • Overriding Clear Terminates Output Pulse
  • Glitch-Free Power-Up Reset On Outputs
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly Site
    • One Test Site
    • One Fabrication Site
  • Extended Temperature Performance of -55°C to 125°C
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree(1)
  • Operating Range 2-V to 5.5-V VCC
  • Schmitt-Trigger Circuitry On A, B, and CLR Inputs for Slow Input Transition Rates
  • Edge Triggered From Active-High or Active-Low Gated Logic Inputs
  • Retriggerable for Long Output Pulses
  • Overriding Clear Terminates Output Pulse
  • Glitch-Free Power-Up Reset On Outputs
  • Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

(1) Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

The SN74AHC123A device is a dual retriggerable monostable multivibrator designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

This edge-triggered multivibrator features output pulse-duration control by three methods. In the first method, the A input is low, and the B input goes high. In the second method, the B input is high, and the A input goes low. In the third method, the A input is low, the B input is high, and the clear (CLR) input goes high.

The output pulse duration is programmed by selecting external resistance and capacitance values. The external timing capacitor must be connected between Cext and Rext/Cext (positive) and an external resistor connected between Rext/Cext and VCC. To obtain variable pulse durations, connect an external variable resistance between Rext/Cext and VCC. The output pulse duration can be reduced by taking CLR low.

Pulse triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the input pulse. The A, B, and CLR inputs have Schmitt triggers with sufficient hysteresis to handle slow input transition rates with jitter-free triggering at the outputs.

Once triggered, the basic pulse duration can be extended by retriggering the gated low-level-active (A) or high-level-active (B) input. Pulse duration can be reduced by taking CLR low. CLR can be used to override A or B inputs. The input/output timing diagram illustrates pulse control by retriggering the inputs and early clearing.

The variance in output pulse duration from device to device is less than ±0.5% (typ) for given external timing components.

During power up, Q outputs are in the low state and Q outputs are in the high state. The outputs are glitch free, without applying a reset pulse.

For additional application information on multivibrators, see the application report Designing With the SN74AHC123A and SN74AHCT123A, literature number SCLA014.

The SN74AHC123A device is a dual retriggerable monostable multivibrator designed for 2-V to 5.5-V VCC operation.

This edge-triggered multivibrator features output pulse-duration control by three methods. In the first method, the A input is low, and the B input goes high. In the second method, the B input is high, and the A input goes low. In the third method, the A input is low, the B input is high, and the clear (CLR) input goes high.

The output pulse duration is programmed by selecting external resistance and capacitance values. The external timing capacitor must be connected between Cext and Rext/Cext (positive) and an external resistor connected between Rext/Cext and VCC. To obtain variable pulse durations, connect an external variable resistance between Rext/Cext and VCC. The output pulse duration can be reduced by taking CLR low.

Pulse triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the input pulse. The A, B, and CLR inputs have Schmitt triggers with sufficient hysteresis to handle slow input transition rates with jitter-free triggering at the outputs.

Once triggered, the basic pulse duration can be extended by retriggering the gated low-level-active (A) or high-level-active (B) input. Pulse duration can be reduced by taking CLR low. CLR can be used to override A or B inputs. The input/output timing diagram illustrates pulse control by retriggering the inputs and early clearing.

The variance in output pulse duration from device to device is less than ±0.5% (typ) for given external timing components.

During power up, Q outputs are in the low state and Q outputs are in the high state. The outputs are glitch free, without applying a reset pulse.

For additional application information on multivibrators, see the application report Designing With the SN74AHC123A and SN74AHCT123A, literature number SCLA014.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74AHC123A-EP データシート (Rev. A) 2007年 3月 14日
* VID SN74AHC123A-EP VID V6206665 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN74AHC123AMDREP Reliability Report 2012年 5月 7日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
アプリケーション・ノート Designing With the SN74LVC1G123 Monostable Multivibrator (Rev. A) PDF | HTML 2020年 3月 13日
セレクション・ガイド Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
製品概要 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
アプリケーション・ノート Advanced High-Speed CMOS (AHC) Logic Family (Rev. C) 2002年 12月 2日
アプリケーション・ノート Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
設計ガイド AHC/AHCT Designer's Guide February 2000 (Rev. D) 2000年 2月 24日
アプリケーション・ノート Benefits & Issues of Migrating 5-V and 3.3-V Logic to Lower-Voltage Supplies (Rev. A) 1999年 9月 8日
製品概要 Military Advanced High-Speed CMOS Logic (AHC/AHCT) (Rev. C) 1998年 4月 1日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

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