C2000-SAFETI-DIAGNOSTICS-LIB
C2000 SafeTI™ 诊断软件库
C2000-SAFETI-DIAGNOSTICS-LIB
概述
C2000 SafeTI 诊断库优势
C2000 MCU 诊断软件包中包括 SafeTI™ 软件,该软件有助于使用 TI C2000™ 实时控制微控制器 (MCU) 更轻松且更快地设计各种功能安全应用。所采用的安全机制旨在帮助客户实现其特定的安全目标。
C2000 SafeTI 诊断库包含特定的功能安全软件机制,使客户能够满足其功能安全目标。器件安全手册中包含并详细介绍了所提供的功能安全软件机制。C2000 根据以下标准选择了要提供的功能安全软件机制:
- 依照器件安全手册的有效机制
- 轻松集成到各种系统
- 利用特定的 C2000 器件特性实现功能安全目的
- 缩短客户软件开发时间和上市时间
如果库中遗漏了有效的功能安全软件机制,这是由于以下一种或多种原因所致:
- 功能安全机制简单,不需要 C2000 提供的软件库或 API
- 功能安全机制与系统实施紧密结合,且无法在 C2000 的软件库中提供通用解决方案
此外,器件安全手册中详细介绍了未在软件库中提供的功能安全软件机制。提供足够的信息,使客户能够实施和集成此类安全机制。
最后,C2000 可在 E2E 上提供客户支持。客户如对功能安全软件集成有疑问,应搜索现有案例或创建新案例以确保问题得到解答。
概述
软件包包含具有适用于精选 TI C2000 MCU 的软件库且运行就绪的简单应用示例,以及支持安全手册和指南。这些软件库允许嵌入各种诊断测试,支持安全手册中对这些测试进行了介绍。使用这些软件库构建的项目展示了如何创建加电自检 (POST) 和定期自检 (PEST) 以及通过 UART 外设连接执行报告。用户指南展示了如何将测试集成到功能安全消费类应用设计中。
合规性支持包 (CSP) 旨在提供必要的文档和报告,以帮助客户使用 C2000 SafeTI 诊断库来符合功能安全标准。诊断软件库的 CSP 是一些列文档,米6体育平台手机版_好二三四 (TI) 使用这些文档来开发和测试诊断软件库。它包含软件安全要求规格、软件架构文档、软件模块设计文档、软件模块单元测试计划、软件模块单元测试文档、静态分析报告、单元测试报告、动态分析报告、功能测试报告和可追溯性文档。
此控制律加速器自检库 (STL) 经过专门设计、开发、测试、评估和批准,可对 f2837x/f2807x 系列 C2000 器件 CLA 处理元件实现 90% 的覆盖率。CLA STL 通过提供 CLA 功能安全诊断措施,客户可在其功能安全控制系统中使用 CLA。CLA STL 支持关注功能安全的客户利用 f2837x/f2807x 系列 C2000 器件的 CLA 提高处理能力。
CLA STL 软件包中包含 STL 源代码和库,以及自检应用 (STA) 示例和其他用户指南。用户指南和 STA 示例详细介绍了如何将 CLA 诊断测试集成到功能安全客户应用设计中。
特性
- 针对以下 C2000 系列的支持
- Delfino F2837xD
- Delfino F2837xS
- Piccolo F2807x
- C28x CPU 和控制律加速器
- 功能安全手册
- 诊断软件或自检库
- 源代码
- 用户指南
- 代码示例软件
- 文档:
- 设计文档和单元测试计划
- 动态分析报告
- 功能测试报告
- 软件架构文档
- 软件安全要求规格
- 静态分析报告
- 测试结果报告
- 可追溯性矩阵
- 单元测试文档
- C2000 MCU Safety Manual for Diagnostic Library
- Diagnostic or Self-Test Library
- Compliance Support Package
- User guides
- User example files
下载
支持的米6体育平台手机版_好二三四和硬件
C2000 实时微控制器
技术文档
类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
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应用手册 | C2000™ 硬件内置自检 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 10月 12日 | |
应用手册 | SRAM 中的错误检测 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2021年 12月 17日 | |
功能安全信息 | Achieving Coexistence of Safety Functions for EV/HEV Using C2000 MCUs | 2018年 5月 21日 | ||||
应用手册 | C2000 CPU Memory Built-In Self-Test | 2017年 11月 27日 |