TPS7H6023EVM-CVAL

TPS7H6023-SP 评估模块

TPS7H6023EVM-CVAL

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概述

TPS7H6023EVM-CVAL 用户指南提供了操作 TPS7H6023-SP 评估模块的全面说明。该电路板可接受高达 14V 的输入电压,允许设计人员通过驱动氮化镓 (GaN) FET 来测试 TPS7H6023-SP 的可靠性。默认情况下,该评估模块设置为在 PWM 模式下与 TPS7H6023-SP 一起运行。该模式接受一个开关信号的输入,并在内部生成互补信号。

特性
  • 在独立输入模式下提供可选输入互锁保护
  • 分离输出实现可调的导通和关断时间
  • 独立输入模式下的典型传播延迟为 25ns
  • 1.5A 峰值拉电流和 3A 峰值灌电流
半桥驱动器
TPS7H6023-SP Radiation-hardened, QMLV 22V half-bridge GaN gate driver
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TPS7H6023EVM-CVAL — TPS7H6023-SP 评估模块

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类型 标题 下载最新的英文版本 日期
EVM 用户指南 TPS7H60x3EVM-CVAL 和 TPS7H60x5EVM 评估模块 (Rev. B) PDF | HTML 英语版 (Rev.B) PDF | HTML 2024年 7月 24日
证书 TPS7H6023EVM-CVAL EU Declaration of Conformity (DoC) 2024年 4月 23日

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