ZHCSOQ6A October   2017  – June 2022 LMT86-Q1

PRODUCTION DATA  

  1. 1 特性
  2. 2 应用
  3. 3 说明
  4. 4 修订历史记录
  5. 5 器件比较
  6. 6 引脚配置和功能
  7. 7 规格
    1. 7.1 绝对最大额定值
    2. 7.2 ESD 等级
    3. 7.3 建议工作条件
    4. 7.4 热性能信息
    5. 7.5 精度特性
    6. 7.6 电气特性
    7. 7.7 典型特征
  8. 8 详细说明
    1. 8.1 概述
    2. 8.2 功能方框图
    3. 8.3 特性说明
      1. 8.3.1 LMT86-Q1 传递函数
    4. 8.4 器件功能模式
      1. 8.4.1 安装和导热性
      2. 8.4.2 输出噪声注意事项
      3. 8.4.3 电容负载
      4. 8.4.4 输出电压漂移
  9. 9 应用和实现
    1. 9.1 应用信息
    2. 9.2 典型应用
      1. 9.2.1 连接至 ADC
        1. 9.2.1.1 设计要求
        2. 9.2.1.2 详细设计过程
        3. 9.2.1.3 应用曲线
      2. 9.2.2 在关断状态下降低功率损耗
        1. 9.2.2.1 设计要求
        2. 9.2.2.2 详细设计过程
        3. 9.2.2.3 应用曲线
  10. 10电源相关建议
  11. 11布局
    1. 11.1 布局指南
    2. 11.2 布局示例
  12. 12器件和文档支持
    1. 12.1 接收文档更新通知
    2. 12.2 支持资源
    3. 12.3 商标
    4. 12.4 Electrostatic Discharge Caution
    5. 12.5 术语表
  13. 13机械、封装和可订购信息

封装选项

机械数据 (封装 | 引脚)
散热焊盘机械数据 (封装 | 引脚)
订购信息

7.4 热性能信息

热指标(1)(2)LMT86-Q1单位
DCK (SOT/SC70)
5 引脚
RθJA 结至环境热阻(3)(4)275°C/W
RθJC(top)结至外壳（顶部）热阻84°C/W
RθJB结至电路板热阻56°C/W
ψJT结至顶部特征参数1.2°C/W
ψJB结至电路板特征参数55°C/W
(1) 有关自发热和热响应时间的信息，请参阅Topic Link Label8.4.1 一节。
(2) 有关传统和新热指标的更多信息，请参阅 IC 封装热指标 应用报告。
(3) 在 JESD51-2 描述的环境中，按照 JESD51-7 的规定，在一个符合 JEDEC 标准的 High-K 电路板上进行仿真，获得自然对流条件下的结至环境热阻抗 (RθJA)。根据 JESD 51-5，假设暴露焊盘封装的散热孔包含在 PCB 中。
(4) 由自发热引起的输出变化可以通过内部耗散乘以热阻来计算。
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