GERA012A December   2023  – January 2024 AM2631 , AM2631-Q1 , AM2632 , AM2632-Q1 , AM2634 , AM2634-Q1 , AM263P4 , AM263P4-Q1 , AMC1303M2520 , AMC1305L25 , AMC1306M25 , TMS320F280033 , TMS320F280034 , TMS320F280034-Q1 , TMS320F280036-Q1 , TMS320F280036C-Q1 , TMS320F280037 , TMS320F280037-Q1 , TMS320F280037C , TMS320F280037C-Q1 , TMS320F280038-Q1 , TMS320F280038C-Q1 , TMS320F280039 , TMS320F280039-Q1 , TMS320F280039C , TMS320F280039C-Q1 , TMS320F280040-Q1 , TMS320F280040C-Q1 , TMS320F280041 , TMS320F280041-Q1 , TMS320F280041C , TMS320F280041C-Q1 , TMS320F280045 , TMS320F280048-Q1 , TMS320F280048C-Q1 , TMS320F280049 , TMS320F280049-Q1 , TMS320F280049C , TMS320F280049C-Q1 , TMS320F28075 , TMS320F28075-Q1 , TMS320F28076 , TMS320F28374D , TMS320F28374S , TMS320F28375D , TMS320F28375S , TMS320F28375S-Q1 , TMS320F28376D , TMS320F28376S , TMS320F28377D , TMS320F28377D-Q1 , TMS320F28377S , TMS320F28377S-Q1 , TMS320F28378D , TMS320F28378S , TMS320F28379D , TMS320F28379D-Q1 , TMS320F28379S , TMS320F28384D , TMS320F28384D-Q1 , TMS320F28384S , TMS320F28384S-Q1 , TMS320F28386D , TMS320F28386D-Q1 , TMS320F28386S , TMS320F28386S-Q1 , TMS320F28388D , TMS320F28388S , TMS320F28P650DH , TMS320F28P650DK , TMS320F28P650SH , TMS320F28P650SK , TMS320F28P659DH-Q1 , TMS320F28P659DK-Q1 , TMS320F28P659SH-Q1

 

  1.   1
  2.   Zusammenfassung
  3.   Marken
  4. 1Einführung
  5. 2Design-Herausforderung durch Timing-Spezifikationen für digitale Schnittstellen
  6. 3Designansatz mit Taktflankenverzögerungskompensation
    1. 3.1 Taktsignalkompensation mit Softwarekonfigurierbarer Phasenverzögerung
    2. 3.2 Taktsignalkompensation mit Hardware-konfigurierbarer Phasenverzögerung
    3. 3.3 Taktsignalkompensation durch Taktrückkehr
    4. 3.4 Taktsignalkompensation durch Taktumkehr an der MCU
  7. 4Test und Validierung
    1. 4.1 Prüfausrüstung und Software
    2. 4.2 Testen der Taktsignalkompensation mit softwarekonfigurierbarer Phasenverzögerung
      1. 4.2.1 Testeinrichtung
      2. 4.2.2 Test-Messergebnisse
    3. 4.3 Testen der Taktsignalkompensation durch Taktumkehr an der MCU
      1. 4.3.1 Testeinrichtung
      2. 4.3.2 Test-Messergebnisse
        1. 4.3.2.1 Testergebnis – Keine Taktumkehr des Takteingangs bei GPIO123
        2. 4.3.2.2 Testergebnis – Taktumkehr des Takteingangs bei GPIO123
    4. 4.4 Validierung des Timings digitaler Schnittstellen durch Berechnungstool
      1. 4.4.1 Digitale Schnittstelle ohne Kompensationsmethode
      2. 4.4.2 Häufig verwendete Methode – Reduzierung der Taktfrequenz
      3. 4.4.3 Taktflankenkompensation Mit Software-konfigurierbarer Phasenverzögerung
  8. 5Fazit
  9. 6Quellennachweise
  10. 7Revision History

4.3.1 Testeinrichtung

Die Testeinrichtung für die Taktsignalkompensation durch Taktumkehr an der MCU mit dem C2000 TMS320F28379D Launchpad ist dargestellt in Abbildung 4-5. Für diese Messung werden von der MCU zwei Testsignale erzeugt. Ein Signal ist mit dem Takteingang SD1_C1, (GPIO123) der MCUs SDFM verbunden, und das andere Signal wird mit dem Dateneingang SD1_D1, (GPIO122) des SDFM verbunden.

Testkonfiguration der Validierung des Timings der digitalen SchnittstelleAbbildung 4-5 Testkonfiguration der Validierung des Timings der digitalen Schnittstelle
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