6 误差源

有多种可能的误差源，其中许多误差源与制造和组装相对应。在基准评估的过程中，此类误差源易于识别，因此在投入大规模生产之前，基准测试是一种良好的必要做法。以下列表显示了针对此具体设计确定的所有可能的误差源，包括在初步设计中需要考虑的误差源：

• 磁体相对于旋转轴的偏移（偏心）
• 磁体倾斜
• 传感器偏移
• 传感器倾斜
• 磁体差异
• 器件型号
• 外部磁场
• 附近材料的影响
• 基准设置误差
• 后处理误差

如需更深入地了解磁体偏移和传感器偏移对设计的影响，请参阅双芯片磁性位置传感器中堆叠芯片和并排芯片实施方案之间的比较应用手册。

基准设置误差对应于被假定为完美的参考角度源的准确度，以及在目标位置测量待测器件 (DUT) 信号的精确度。作为基准设置误差的一个示例，图 6-1 显示了最初如何收集数据来评估本应用手册中介绍的设计。初步设置引入的测量误差来自人类视觉分辨率的极限、保持精确位置的能力以及时间同步平均数据。图 5-1 中所示的设置消除了这些误差来源。

图 6-1 初步测试设置

后处理误差可能源于对数据求平均值的方式、数据的转换方式，以及校准算法的执行方式。图 6-2 展示了一个后处理误差示例。在该特定情况下，在基准测试期间的每个离散步骤都进行了多次测量，以考虑噪声。这些测量值采用二进制补码格式，随后会像非二补码数一样错误地取平均值。由于二进制补码格式中一个接近 0 的负数与一个很大的非二进制补码数具有相同的二进制格式，因此当像非二进制补码数一样取平均值时，对于一个标准非二进制补码格式中应该接近 0 的值，其平均值会变得非常大。

图 6-2 用户不当后处理导致的误差