第一个数据集显示了输出电流和 PWM 频率如何影响器件封装的温度。这些测量是使用 DRV8317 和以下参数进行的：电源电压设置为 17.4V，压摆率设置为最大值 200V/μs，电机在空载时进行特性分析，在器件实现输出电流的 10-60 秒内进行测量。请注意，DRV8317 的内部线性稳压器会导致器件的功率损耗，并且此输出在两次测试之间是一致的。

表 3-1 展示了提高 PWM 频率和电流所产生的实际影响。首先，在将 PWM 频率保持恒定并将封装温度与两个不同的输出电流 RMS 值进行比较时，数据显示更高的电流输出可以显著升高器件的温度。这是预期结果，因为导通损耗在高电流输出下占主导地位，并且由器件的 R_ds(on) 决定。其次，在将输出电流 RMS 保持恒定并将封装温度与增加的 PWM 频率进行比较时，数据显示高 PWM 频率也会显著升高器件的温度。这是开关和二极管损耗的预期结果，如上一节所述。

请注意，这些数据也显示器件已接近绝对最大温度阈值。虽然根据数据表该阈值通常为 160 摄氏度，但器件差异意味着该阈值可以低至 145 摄氏度，也可以高至 175 摄氏度。在这些高电流输出下运行时，这可能会导致许多器件出现可靠性问题。因此，在实践中，PWM 频率会限制驱动器可产生的电流量，不会造成永久损坏。