ZHCSJ18C October 2018 – November 2021 UCC21530
PRODUCTION DATA
UCC21530 的结温可以通过以下公式进行估算:
其中
使用结至顶特征参数 (ΨJT) 代替结至外壳热阻 (RΘJC) 可以极大地提高结温估算的准确性。大多数 IC 的大部分热能通过封装引线释放到 PCB 中,而只有一小部分的总能量通过外壳顶部(通常在此处进行热电偶测量)释放。只有在大部分热能通过外壳释放时才能有效地使用 RΘJC 电阻,例如金属封装或在 IC 封装上应用散热器时。在所有其他情况下,使用 RΘJC 将无法准确地估算真实的结温。ΨJT 是通过假设通过 IC 顶部的能量在测试环境和应用环境中相似而通过实验得出的。只要遵循建议的布局指南就可以将结温估算精确到几摄氏度内。有关更多信息,请参阅Topic Link Label11.1和《半导体和 IC 封装热指标》应用报告。