软件测试可用于测试模块的基本功能，引入诊断错误并检查错误响应是否正确。这种测试可在启动时执行，或者定期执行。必要的软件需求由系统集成商执行的软件定义。

下面给出了创建一些特定于模块的测试功能和错误测试的思路：

• 可以通过向 TMS320F28004x MCU 发送一个已知的输入测试序列来检查 SDFM 功能，再使用数字抽取滤波器对其进行处理，并对照已知值对该值进行交叉检查。为了检测比较器中断生成逻辑中的故障，可以创建一个测试模式，用于将高、低阈值寄存器值分别配置为最小值和最大值。应始终使用这样的配置来生成中断。
• 可以通过将已知良好的数据从源存储器传输到目标存储器并在传输后检查数据完整性来检查 DMA 功能。使用提供的软件触发器 (CONTROL.PERINTFRC) 可以启动传输。片上计时器可用于评测此类数据传输所需的时间。
• 使用输入和输出 X-BAR 创建一个循环（输出 X-BAR 可用作输入 X-BAR 的激励信号），在输入端发送一个已知测试序列，并在最终输出端观察，从而执行输入和输出 X-BAR 模块的软件测试。可通过发送测试激励信号并使用 ePWM 跳变或同步功能来观察响应，从而检查 ePWM X-BAR 的完整性。
• 可通过配置输入 X-BAR 并强制相应的 GPIO 寄存器生成中断来检查针对 XINT 功能的软件测试。通过执行极性检查 (XINTxCR.POLARITY) 和使能 (XINTxCR.ENABLE) 功能，可以提高诊断覆盖率。
• 可通过将 PWM、HRPWM 或 GPIO 输出环回到各自的模块输入，提供模块所需的已知良好序列并观察模块输出来检查 eCAP、HRCAP 和 eQEP 功能。对于 eCAP 和 HRCAP，可以借助输入 X-BAR 在内部进行测试。
• 可以使用Topic Link Label6.3.7中给出的类似技术检查 ROM 预取功能。
• ePWM 模块由时基 (TB)、计数器比较 (CC)、动作限定器 (AQ)、死区发生器 (DB)、PWM 斩波器 (PC)、跳变区 (TZ)、事件触发器 (ET) 和数字比较 (DC) 子模块组成。使用 ePWM 提供合适的激励信号并使用其中一个捕捉（时间戳）模块（eCAP、XINT、eQEP 等）观察响应，从而测试各个子模块。建议在执行软件测试时覆盖与应用配置相关的各种寄存器值。由于各种子模块的正则线性特性，使用软件测试可以获得高覆盖率。
• SRAM 包装程序逻辑电路的软件测试应提供诊断覆盖，以便在访问特定 SRAM 的各种主器件之间进行仲裁，并确保访问保护正常运行。这对用于提供 SRAM 位单元覆盖的测试进行了补充（请参阅Topic Link Label6.3.12）。
• 可通过从 CPU 和 CLA 的处理单元写入互补数据模式（如 0xA5A5、0x5A5A 等），并从通过不同网桥连接的 IP 寄存器读回来测试互连 (INC) 功能。可将读回数据与预期黄金值进行比较，以确保无故障互连操作。可以使用 CPU 和 CLA 对不同数据宽度类型的访问（16 位和 32 位）和宽地址范围（如适用）重复该练习。对于连接到各种网桥的应用中使用的不同外设实例，可以重复 CPU 访问，如图 4-1 所示。

• 为了测试 ADC 模块和后处理块 (PPB) 的核心功能，可通过外部电路或内部 DAC 在 ADC 输入引脚上提供一组预定的电压电平。由此获得的 ADC/PPB 结果可以对照预期值进行交叉检查，以确保正常运行。可以运用和测试应用中使用的 ADC 极端拐角值来检查工作范围内的转换是否成功。可通过写入互补数据模式、读回并与预期值进行比较来检查 ADC 配置寄存器。

• DAC 包含一组控制寄存器，可通过在 16 位访问模式下写入互补数据模式（如 0xA5A5、0x5A5A 等）来进行检查。可以读回所有寄存器并与预期值进行比较。可通过将寄存器配置为 0xA5A5 模式、置位 DAC 的软复位、读回寄存器并将读回值与预期复位值进行比较来检查寄存器的复位特性。可以检查锁定寄存器，以确保其只需设置一次。此外，被锁定的寄存器在写入时不得更新。若要测试 DAC 模块的核心功能，可以使用软件对其进行配置，以提供一组预定的电压电平。这些电压电平可由外部或内部 ADC 测量，由此获得的结果可以对照预期值进行交叉检查，以确保正常运行。根据应用对 DAC 的极端拐角值进行编程和测试，以检查在有效范围内数字到模拟模块的转换是否成功。
• 比较器子系统 (CMPSS) 包含一组寄存器，可通过在 16 位和 32 位访问模式下写入互补数据模式（如 0xA5A5、0x5A5A 等）来检查这些寄存器。可以读回这些寄存器并与预期值进行比较。可由适用的主器件（即 DMA、CLA 和 CPU）覆盖这些访问。在通过上升的 PWMSYNC 信号从 RAMPDLYS 加载 RAMPDLYA 后，可以检查 CMPSS 模块的特性（如斜坡递减），以进行 RAMPDLYA 的倒计时。应确保减量器减少到零并保持不变，直到下一次从 RAMPDLYS 重新加载。可在倒计时之前配置 RAMPDLYS 的极值。可通过将数字滤波器 CTRIPHFILCTL/CTRIPLFILCTL 寄存器配置为各种 SAMPWIN（采样窗口）和 THRESH（多数表决阈值）值，然后根据滤波器输出的变化验证 COMPHSTS/COMPLSTS 的变化，从而检查数字滤波器 CTRIPHFILCTL/CTRIPLFILCTL 寄存器。可以使用滤波器时钟预分频器值 (CTRIPLFILCLKCTL) 的适用范围来确保滤波器正确采样。
• 可通过软件测试来测试 CPU 计时器的一般操作，方法是从周期寄存器 PRDH 加载 32 位计数器寄存器 TIMH，在每个时钟周期开始递减计数器。当计数器达到零时，计时器中断输出会生成一个中断脉冲。在测试计时器功能时，通过选择时钟源 SYSCLK、INTOSC1、INTOSC2 或 XTAL 来改变计时器预分频计数器 (TPR) 值，并改变输入时钟。在计时器计数结束时测试中断生成功能。检查 TCR 寄存器中的时间溢出标志和计时器重新加载 (TRB) 功能是否正常运行。
• 可以在 zone1、zone2 和非安全区域中独立实现 DCSM 中的软件测试功能，以检查 DCSM 功能。在器件启动阶段，器件安全配置从 OTP 加载到 DCSM。测试功能可用于对属于同一区域和不同区域的 RAM 和闪存扇区进行访问过滤检查（读写和执行权限）。另外，还可以对 RAM 和闪存扇区进行 EXEONLY 配置检查，以确保阻止除执行访问之外的所有访问。