TPD2S701-Q1
- 符合 AEC-Q100 标准
- –40°C 至 125°C 的工作温度范围
- VD+ 和 VD– 上的 VBUS 短路保护
- ESD 性能 VD+,VD–
- ±8kV 接触放电(IEC 61000-4-2 和 ISO 10605 330pF,330Ω)
- ±15kV 气隙放电(IEC 61000-4-2 和 ISO 10605 330pF,330Ω)
- 高速数据开关(1GHz 带宽)
- 只需要 5V 电源
- 可调节 OVP 阈值
- 快速过压响应时间(典型值 200ns)
- 热关断特性
- 集成输入使能和故障输出信号
- 保证数据完整性的直通路由
- 10 引脚 VSSOP 封装 (3mm × 3mm)
- 10 引脚 QFN 封装 (2.5mm × 2.5mm)
TPD2S701-Q1 是一款用于汽车高速接口(如 USB 2.0)的双通道线路 VBUS 短路和 IEC61000-4-2 ESD 保护器件。TPD2S701-Q1 包含两个数据线路 nFET 开关。这些开关通过提供业界一流的带宽,实现最小的信号衰减,同时可保护内部系统电路(在 VD+ 和 VD– 引脚上),使其免受过压情况的损坏,从而确保安全的数据通信。
在这些引脚上,此器件可实现直流电高达 7V 的过压保护。这为 USB VBUS 轨的数据线路短路提供了充分保护。该过压保护电路提供业界最可靠的 VBUS 短路隔离,能在 200ns 内关闭数据开关,并保护上游电路免受有害电压和电流尖峰影响。
此外,TPD2S701-Q1 只需要 5V 的单一电源,这优化了电源树的大小和成本。该器件允许通过电阻分压器网络调整 OVP 阈值和钳位电路,为优化系统保护提供了一种简单且经济高效的方法(适用于任何收发器)。TPD2S701-Q1 还包括一个 FLT 引脚,该引脚会在器件出现过压状况时发出指示,并在过压状况消除后自动复位。
TPD2S701-Q1 还在 VD+ 和 VD– 引脚上集成了系统级别的 IEC 61000-4-2 和 ISO 10605 ESD 钳位,因此在应用中无需再配置高压、低电容的外部 TVS 钳位电路。
技术文档
类型 | 标题 | 下载最新的英语版本 | 日期 | |||
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* | 数据表 | TPD2S701-Q1 汽车类 USB 双通道数据线路 VBUS 短路保护和 IEC ESD 保护 数据表 (Rev. A) | PDF | HTML | 英语版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2017年 11月 20日 |
应用手册 | Mode Pin Precautions for TPD2S701-Q1 and TPD2S703-Q1 | 2017年 5月 2日 | ||||
EVM 用户指南 | TPD2S701-Q1 Evaluation Module User's Guide | 2017年 1月 9日 |
设计和开发
如需其他信息或资源,请点击以下任一标题进入详情页面查看(如有)。
TPD2S701Q1EVM — TPD2S701-Q1 汽车类 USB 双通道数据线路评估模块
TI TPD2S701-Q1 采用小型、可轻松布线的封装,供用户保护他们的 USB 接口的数据线路。TPD2S701-Q1 评估模块 (EVM) 可提供五种型号的 TPD2S701-Q1,它们展示了具有不同配置的多个封装选项,可让用户以自己偏爱的方式对其进行测试。TPD2S701Q1EVM 可提供具有直通配置的 DGS 和 DSK 封装选项,以支持系统级测试;同时还可提供用于测量 S 参数的 SMA 连接器。此外,该 EVM 还可提供带有冲击点的配置,以测量对 ESD 脉冲的响应。最后,该 EVM 还具有空白线迹,以在测试时提供基准。
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封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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VSSOP (DGS) | 10 | Ultra Librarian |
WSON (DSK) | 10 | Ultra Librarian |
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