DLPNIRSCANEVM
DLP® NIRscan™ 評価基板
DLPNIRSCANEVM
概要
DLP NIRscan は、低コストで高性能な近赤外線分光計を設計するための包括的な評価基板(EVM)です。 このツールはフレキシビリティが高く、必要なものがすべて含まれており、DLP ベースの分光計開発の迅速な開始を可能にします。 この評価基板は、近赤外(NIR)光用に最適化されている初の DLP チップセットとなる DLP 0.45 WXGA NIR チップセットが特長です。 DLP テクノロジーにより、食品、製薬、石油/ガス、他の新興産業で使用されている分光器で、ラボ レベルの性能を工場や現場でも実現できるようになります。分光器の詳細をご覧ください。
電源は別売りです。
特長
DLP®NIRscan™ 評価基板は、以下に示す重要な機能を搭載しています。モバイル センシングについては、DLP NIRscan Nano 評価基板をご確認ください。次の表は、その 2 つの評価基板の主な仕様を比較したものです。
高性能 EVM | モバイル センシング EVM | |
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主な特長 | DLP NIRscan | DLP NIRscan Nano |
評価基板 (EVM) の用途 | 卓上 / ポータブル | バッテリ |
主なデジタル マイクロミラー デバイス | DLP4500NIR | DLP2010NIR |
マイクロミラー アレイ サイズ (ピクセル数) | 912 x 1140 | 854 x 480 |
マイクロミラーのピクセル ピッチ (μm) | 7.6 | 5.4 |
マイクロミラーの傾斜角 (度) | +/-12 | +/-17 |
EVM の波長範囲 | 1350 ~ 2490nm | 900 ~ 1700nm |
EVM のスペクトル分解能 | 12nm | 10nm |
EVM の最大スキャン速度 (kHz) | 4 | 2.88 |
EVM の信号対雑音比 | 30,000:1 (透過性ヘッド) | 6,000:1 (反射ヘッド) |
DLP NIRscan 評価基盤 AM335x ソフトウェア:このソフトウェア バンドルには、DLP NIRscan 評価基板の組込みプロセッサで実行される AM335x ソフトウェアの実行可能ファイル、ソース ファイル、インストール ファイルが含まれています。このソフトウェアは NIRscan 分光計の機能を実装します。バージョン 2.0 では v1.0 の既存機能に加えてスルー スキャン機能とアダマール機能を使用できるため、バージョン 2.0 がお勧めです。
概要 | 供給状況 | バージョン | バージョン更新日 | ダウンロード |
Linux 向け DLP NIRscan ソフトウェア バンドル | 生産中止品 | 1.0.0 | "2014-04-11 | ダウンロード |
Linux 向け DLP NIRscan ソフトウェア バンドル | アクティブ | 2.0.0 | "2014-08-15 | ダウンロード |
Windows 向け DLP NIRscan MicroSD イメージ | アクティブ | 2.0.0 | "2014-08-15 | ダウンロード |
AM335x Sitara Arm SDK | アクティブ | 6.0 | ダウンロード |
- DLP4500NIR DMD 搭載の分光計光学式エンジン
- 単一素子の InGaAs 増幅ディテクタ
- DLPC350 DMD コントローラ、AM3358 プロセッサ、ADS1255 ADC を搭載したドライバ エレクトロニクス
- ハロゲン・ランプ付き透光度サンプリング・モジュール
- 使い捨てキュベット (3)
- 組込み Linux オペレーティング システムと、BeagleBone Black アーキテクチャ・ベースの Web サーバー
- 電源は別売りです。
4 ~ 20mA のシグナル・コンディショナ
LCD / OLED ディスプレイ向けの電源とドライバ
マルチチャネル IC (PMIC)
可視光製品 (420 ~ 700nm)
開始する
- DMD評価基板 (EVM) DLPNIRSCANEVM および対応する電源をご注文いただけます
- DLPNIRSCANEVM ユーザー ガイドを読みます
- DLPLCR4500EVM-GUI と DLPNIRSCANEVM ファームウェアをダウンロードします
- DMD 評価基板 (EVM) である DLPNIRSCANEVM-DF の設計ファイルをダウンロードします
購入と開発の開始
DLPNIRSCANEVM — DLP® NIRscan™ 評価モジュール
DMD-DIFFRACTION-EFFICIENCY-CALCULATOR — Calculator helps model DMD diffraction patterns and diffraction efficiency
DMD-DIFFRACTION-EFFICIENCY-CALCULATOR — Calculator helps model DMD diffraction patterns and diffraction efficiency
製品
0.47 インチ以上のアレイを使用する製品
0.47 インチ以下のアレイを使用する Pico 製品
紫外線製品 (400nm 未満)
可視光製品 (420 ~ 700nm)
分光器と光学ネットワーク製品
車外照明 / 投影製品
近紫外線製品 (400 ~ 420nm)
ディスプレイ製品
近赤外線製品 (> 700 nm)
マルチチャネル IC (PMIC)
ハードウェア開発
評価ボード
開発キット
光学モジュール
リリース情報
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Copyright © 2024 Texas Instruments Incorporated - http://www.ti.com/
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Product name: DMD Diffraction Efficiency Calculator
Version: 1.0.0.0
Date: May 2024
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DESCRIPTION
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The DMD Diffraction Efficiency Calculator is used to help customers understand how to model DMD diffraction patterns and diffraction efficiency with their specific DMD input parameters and will be modeled to the customers specific design.
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REVISION HISTORY
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* Initial release
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RESTRICTIONS
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* Tested on Windows 10.
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CONTACT US
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At http://e2e.ti.com/
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DLP-OPTICAL-DESIGN — DLP-OPTICAL-DESIGN-GUIDELINES
DLP-OPTICAL-DESIGN — DLP-OPTICAL-DESIGN-GUIDELINES
製品
近紫外線製品 (400 ~ 420nm)
0.47 インチ以上のアレイを使用する製品
0.47 インチ以下のアレイを使用する Pico 製品
紫外線製品 (400nm 未満)
可視光製品 (420 ~ 700nm)
分光器と光学ネットワーク製品
車外照明 / 投影製品
ディスプレイ製品
近赤外線製品 (> 700 nm)
マルチチャネル IC (PMIC)
ハードウェア開発
評価ボード
開発キット
光学モジュール
リリース情報
The DLP optical design guidelines presentation provides a comprehensive overview of the guidelines specific to designing an optical system with DLP Products and will help enable customers in their design process.
技術資料
種類 | タイトル | 英語版のダウンロード | 日付 | |||
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* | EVM ユーザー ガイド (英語) | DLP® NIRscan™ EVM User's Guide (Rev. C) | 2018年 11月 1日 | |||
* | アプリケーション・ノート | Optimizing the DLP® Spectrometer Signal Chain | 2016年 9月 14日 | |||
* | アプリケーション・ノート | Flexible Trade-offs in Maximizing SNR and Res. in TI DLP® Tech. Based Spec. Sys. | 2016年 8月 1日 | |||
証明書 | DLPNIRSCANEVM EU Declaration of Conformity (DoC) | 2019年 1月 2日 | ||||
ソリューション・ガイド | TI DLP® Technology for Spectroscopy (Rev. B) | 2016年 4月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | DLP® NIRscan™ Nano Optical Design Considerations | 2016年 1月 14日 | ||||
ホワイト・ペーパー | DLP Technology for Spectroscopy (Rev. A) | 2015年 8月 15日 | ||||
アプリケーション・ノート | DLP Spectrometer Design Considerations | 2014年 8月 21日 |