SN74F253

アクティブ

3 ステート出力、デュアル、4:1、データ・セレクタ / マルチプレクサ

製品詳細

Technology family F Function Digital Multiplexer Configuration 4:1 Number of channels 2 Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
Technology family F Function Digital Multiplexer Configuration 4:1 Number of channels 2 Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6
  • 3-State Versions of SN54F153 and SN74F153
  • Permits Multiplexing From N Lines to One Line
  • Performs Parallel-to-Serial Conversion
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs

 

  • 3-State Versions of SN54F153 and SN74F153
  • Permits Multiplexing From N Lines to One Line
  • Performs Parallel-to-Serial Conversion
  • Package Options Include Plastic Small-Outline Packages, Ceramic Chip Carriers, and Standard Plastic and Ceramic 300-mil DIPs

 

These data selectors/multiplexers contain inverters and drivers to supply full binary decoding data selection to the AND-OR gates. Separate output-control inputs are provided for each of the two 4-line sections.

The 3-state outputs can interface with and drive data lines of bus-organized systems. With all but one of the common outputs disabled (at a high-impedance state), the low impedance of the single enabled output will drive the bus line to a high or low logic level. Each output has its own strobe (G\) inputs. The output is disabled when its strobe is high.

The SN54F253 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F253 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

Select inputs A and B are common to both sections.

These data selectors/multiplexers contain inverters and drivers to supply full binary decoding data selection to the AND-OR gates. Separate output-control inputs are provided for each of the two 4-line sections.

The 3-state outputs can interface with and drive data lines of bus-organized systems. With all but one of the common outputs disabled (at a high-impedance state), the low impedance of the single enabled output will drive the bus line to a high or low logic level. Each output has its own strobe (G\) inputs. The output is disabled when its strobe is high.

The SN54F253 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74F253 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

 

Select inputs A and B are common to both sections.

ダウンロード 字幕付きのビデオを表示 ビデオ

お客様が関心を持ちそうな類似品

open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン互換製品
SN74HC253 アクティブ 3 ステート出力、デュアル、4 ライン入力 1 ライン出力、データ・セレクタ / マルチプレクサ Voltage range (2V to 6V), average drive strength (8mA), average propagation delay (20ns)

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
10 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Dual 1-of-4 Data Selector/Multiplexers With 3-State Outputs データシート (Rev. A) 1993年 10月 1日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​

ビデオ