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SN74LS47

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BCD to 7 セグメント・デコーダ/ドライバ

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SN74LS47

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製品詳細

Technology family LS Number of channels 1 Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog Supply current (max) (µA) 10000
Technology family LS Number of channels 1 Operating temperature range (°C) 0 to 70 Rating Catalog Supply current (max) (µA) 10000
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 SOP (NS) 16 79.56 mm² 10.2 x 7.8
  • '46A, '47A, 'LS47 feature
    • Open-Collector Outputs Drive Indicators Directly
    • Lamp-Test Provision
    • Leading/Trailing Zero Suppression
  • '48, 'LS48 feature
    • Internal Pull-Ups Eliminate Need for External Resistors
    • Lamp-Test Provision
    • Leading/Trailing Zero Suppression
  • 'LS49 feature
    • Open-Collector Outputs
    • Blanking Input
  • All Circuit Types Feature Lamp Intensity Modulation Capability
  • '46A, '47A, 'LS47 feature
    • Open-Collector Outputs Drive Indicators Directly
    • Lamp-Test Provision
    • Leading/Trailing Zero Suppression
  • '48, 'LS48 feature
    • Internal Pull-Ups Eliminate Need for External Resistors
    • Lamp-Test Provision
    • Leading/Trailing Zero Suppression
  • 'LS49 feature
    • Open-Collector Outputs
    • Blanking Input
  • All Circuit Types Feature Lamp Intensity Modulation Capability

The '46A, '47A, and 'LS47 feature active-low outputs designed for driving, common-anode LEDs or incandescent indicators directly. The '48, 'LS48, and 'LS49 feature active-high outputs for driving lamp buffers or common-cathode LEDs. All of the circuits except 'LS49 have full ripple-blanking input/output controls and a lamp test input. The 'LS49 circuit incorporates a direct blanking input. Segment identification and resultant displays are shown below. Display patterns for BCD input counts above 9 are unique symbols to authenticate input conditions.

The '46A, '47A, '48, 'LS47, and 'LS48 circuits incorporate automatic leading and/or trailing-edge zero-blanking control (RBI\ and RBO\). Lamp test (LT\) of these types may be performed at any time when the BI\/RBO\ node is at a high level. All types (including the '49 and 'LS49) contain an overriding blanking input (BI\), which can be used to control the lamp intensity by pulsing or to inhibit the outputs. Inputs and outputs are entirely compatible for use with TTL logic outputs.

The SN54246/SN74246 and '247 and the SN54LS247/SN74LS247 and 'LS248 compose the 6 and the 9 with tails and were designed to offer the designer a choice between two indicator fonts.

The '46A, '47A, and 'LS47 feature active-low outputs designed for driving, common-anode LEDs or incandescent indicators directly. The '48, 'LS48, and 'LS49 feature active-high outputs for driving lamp buffers or common-cathode LEDs. All of the circuits except 'LS49 have full ripple-blanking input/output controls and a lamp test input. The 'LS49 circuit incorporates a direct blanking input. Segment identification and resultant displays are shown below. Display patterns for BCD input counts above 9 are unique symbols to authenticate input conditions.

The '46A, '47A, '48, 'LS47, and 'LS48 circuits incorporate automatic leading and/or trailing-edge zero-blanking control (RBI\ and RBO\). Lamp test (LT\) of these types may be performed at any time when the BI\/RBO\ node is at a high level. All types (including the '49 and 'LS49) contain an overriding blanking input (BI\), which can be used to control the lamp intensity by pulsing or to inhibit the outputs. Inputs and outputs are entirely compatible for use with TTL logic outputs.

The SN54246/SN74246 and '247 and the SN54LS247/SN74LS247 and 'LS248 compose the 6 and the 9 with tails and were designed to offer the designer a choice between two indicator fonts.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート BCD-to-Seven-Segment Decoders/Drivers データシート 1988年 3月 1日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
TI.com で取り扱いなし
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
SOP (NS) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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