TIDA-01054

用于消除高性能 DAQ 系统中的 EMI 影响的多轨电源参考设计

TIDA-01054

设计文件

概述

TIDA-01054 参考设计采用 LM53635 降压转换器,可帮助消除 EMI 对高于 16 位的数据采集 (DAQ) 系统的性能降低影响。借助该降压转换器,设计人员可以将电源解决方案放置在靠近信号路径的位置,而不会产生不必要的 EMI 噪声降级,同时可以节省布板空间。该设计使用 20 位 1MSPS SAR ADC 支持 100.13dB 的系统 SNR 性能,这基本匹配使用外部电源时的 100.14dB SNR 性能。

特性
  • 电源设计可最大程度地减小直流/直流 EMI 对系统性能的影响
  • 具有两个 20 位 SAR ADC 通道
  • 适用于可重复的高通道数系统的模块化前端参考设计
  • 高达 +/-4V 的输入信号(8Vpp 差动)
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我们开发的全面组装电路板仅用于测试和性能验证,不可用于销售。

设计文件和米6体育平台手机版_好二三四

设计文件

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ZHCU326A.PDF (3061 K)

参考设计概述和经过验证的性能测试数据

TIDRSM4A.PDF (1043 K)

设计布局和元件的详细原理图

TIDRSM5A.PDF (79 K)

设计元件、引用标识符和制造商/器件型号的完整列表

TIDRSM6.PDF (858 K)

元件放置方式设计布局的详细原理图

TIDRSM8A.ZIP (57322 K)

IC 元件的 3D 模型和 2D 图纸使用的文件

TIDCDT9.ZIP (1236 K)

包含设计 PCB 物理板层信息的设计文件

TIDRSM7.PDF (3668 K)

用于生成 PCB 设计布局的 PCB 层图文件

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在设计中包括 TI 米6体育平台手机版_好二三四和可能的替代米6体育平台手机版_好二三四。

AC/DC 和 DC/DC 转换器(集成 FET)

LM460013.5 至 60V、1A 同步降压转换器

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AC/DC 和 DC/DC 转换器(集成 FET)

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AC/DC 和 DC/DC 转换器(集成 FET)

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AC/DC 和 DC/DC 转换器(集成 FET)

LM7705低噪声负偏置发生器

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D 型触发器

SN74AUP1G80低功耗单路上升沿 D 级触发器

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Precision ADCs

ADS8900B具有内部 VREF 缓冲器、内部 LDO 和增强型 SPI 的 20 位 1MSPS 单通道 SAR ADC

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串联电压基准

REF50404.096V、3µVpp/V 噪声、3ppm/°C 温漂、精密串联电压基准

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串联电压基准

REF6041具有集成缓冲器和使能引脚的 4.096V、5ppm/°C 高精度电压基准

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反向缓冲器和驱动器

SN74AHC1G04单路 2V 至 5.5V 反相器

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振荡器

LMK61E2156.250MHz、±50ppm、超低抖动、集成式 EEPROM、完全可编程振荡器

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时钟缓冲器

LMK00804B低偏斜、1 至 4、多路复用差动/LVCMOS 至 LVCMOS/TTl 扇出缓冲器

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电源模块(集成电感器)

LMZ14201采用 Leaded Surface Mount TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、1A 电源模块

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电源模块(集成电感器)

LMZ14202采用 Leaded SMT-TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、2A 电源模块

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电源模块(集成电感器)

LMZ14203采用 Leaded Surface Mount TO 封装的 SIMPLE SWITCHER® 6V 至 42V、3A 电源模块

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精密运算放大器 (Vos<1mV)

OPA376精密 (0.025mV)、低噪声 (7.5nV/rtHz)、低静态电流 (760uA) 运算放大器

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精密运算放大器 (Vos<1mV)

OPA827低噪声、高精度 JFET 输入运算放大器

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线性和低压降 (LDO) 稳压器

TPS7A3001-EP负 VIN、200mA、超低噪声、高 PSRR、LDO 稳压器(增强型米6体育平台手机版_好二三四)

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线性和低压降 (LDO) 稳压器

TPS7A47具有使能功能的 1A、36V、低噪声、高 PSRR、低压降稳压器

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高速运算放大器 (GBW ≥ 50MHz)

OPA625具有功率调节功能的高带宽、高精密、低噪声和低失真放大器 SAR ADC 驱动器

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类型 标题 下载最新的英文版本 日期
设计指南 用于消除高性能DAQ 系统中的EMI 影响的多轨电源参考设计 (Rev. A) 英语版 (Rev.A) 2018年 4月 11日
技术文章 Powering up the performance of sensitive test and measurement systems PDF | HTML 2017年 10月 17日

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