TPS7H6013-SP
- 辐射性能:
- 耐辐射保障 (RHA) 高达 100krad(Si) 总电离剂量 (TID)
- 单粒子锁定 (SEL)、单粒子烧毁 (SEB) 和单粒子栅穿 (SEGR) 对于线性能量传递 (LET) 的抗扰度高达 75MeV-cm2/mg
- 单粒子瞬变 (SET) 和单粒子功能中断 (SEFI) 的特征值高达 LET = 75MeV-cm2/mg
- 1.3A 峰值拉电流和 2.5A 峰值灌电流
- 两种工作模式:
- 具有可调死区时间的单个 PWM 输入
- 两个独立输入
- 在独立输入模式下提供可选输入互锁保护
- 分离输出实现可调的导通和关断时间
- 独立输入模式下的典型传播延迟为 30ns
- 5.5ns 典型延迟匹配
TPS7H60x3-SP 系列耐辐射保障 (RHA) 氮化镓 (GaN) 场效应晶体管 (FET) 栅极驱动器专为高频、高效率应用而设计。该系列包括 TPS7H6003-SP(200V 等级)、TPS7H6013-SP(60V 等级)和 TPS7H6023-SP(22V 等级)。这些驱动器具有可调节死区时间功能、30ns 低传播延迟,以及 5.5ns 的高侧和低侧匹配。这些器件还包括内部高侧和低侧 LDO,无论电源电压如何,都能确保驱动电压为 5V。TPS7H60x3-SP 驱动器都具有分离栅输出,可独立灵活地调节输出的导通和关断强度。
TPS7H60x3-SP 驱动器具有两种控制输入模式:独立输入模式 (IIM) 和 PWM 模式。在 IIM 中,每个输出都由专用输入来控制。在 PWM 模式下,两个补偿输出信号由单个输入产生,用户可以调节每个边沿的死区时间。
栅极驱动器还提供用户可配置的输入互锁功能,在独立输入模式下作为防击穿保护。当两个输入同时导通时,输入互锁不允许两个输出同时导通。用户可以选择在独立输入模式下启用或禁用此保护,从而可以在多种不同的转换器配置中使用该驱动器。这些驱动器还可用于半桥和双低侧转换器应用。
技术文档
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评估板
TPS7H6013EVM-CVAL — TPS7H6013-SP 评估模块
TPS7H6013EVM-CVAL 可帮助用户评估 TPS7H6013-SP 器件。该电路板可接受高达 45V 的输入电压,允许用户通过驱动 GaN FET 来测试 TPS7H6013-SP 的可靠性。默认情况下,该评估模块设置为在 PWM 模式下与 TPS7H6013-SP 一起运行。该模式接受一个开关信号的输入,并在内部生成互补信号。
模拟工具
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封装 | 引脚 | CAD 符号、封装和 3D 模型 |
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CFP (HBX) | 48 | Ultra Librarian |
订购和质量
包含信息:
- RoHS
- REACH
- 器件标识
- 引脚镀层/焊球材料
- MSL 等级/回流焊峰值温度
- MTBF/时基故障估算
- 材料成分
- 鉴定摘要
- 持续可靠性监测
包含信息:
- 制造厂地点
- 封装厂地点