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BQ7973X-Q1-DESIGN — BQ7973x-Q1 design resources
BQ7973x-Q1 documentation repository
BQ79731-Q1
- AEC-Q100 認定済み –40℃～+125℃
- 機能安全性準拠製品向け
- ISO 26262 システムの設計に役立つ資料
- ASIL D までを対象とする体系的対応能力
- ASIL D までを対象とするハードウェア機能
- 17 個のシングルエンド電圧チャネル
- 高電圧パック、リンク、充電測定精度 0.2% 未満
- パックとセル VI を 64uS に同期
- 2 つの独立した電流センス ADC (BQ79731-Q1）
- ゲイン誤差ドリフト ±0.05%
- 入力範囲 = ±275mV
- 2 つの過電流検出コンパレータ (BQ79731-Q1)
- ±1% の精度
- 選択可能な双方向スレッショルド
- プログラマブル OC
- 内蔵クーロン・カウント機能 (BQ79731-Q1)
- IO、I2C、SPI、ADC、温度センスとしての 15 個の GPIO 入力
- 専用 MOSFET スイッチ・ドライブ・ピン
- インテリジェント SPI コントローラ・ハブ
- 複数の SPI 周辺装置に対応
- 接触器ドライバとパイロ・ヒューズ・ドライバをトリガする HW ピン
- スタッカブル、18S (BQ79718) などのセル・モニタと互換性のあるレジスタ・マップ
本デバイスは、バッテリ・システム内の分割された高電圧ノードの測定に使用できます。ヒューズ、接触器の両端の電圧を測定し、バッテリ・ジャンクション・ボックス (BJB) システムの絶縁電圧を確認できます。本デバイスには 2 つの電流センス (BQ79731-Q1) パスが内蔵されており、ローサイド・シャント抵抗をサポートしています。クーロン・カウント (BQ79731-Q1) 機能により、正確な SOC 計算が可能です。HV 測定、サーミスタ測定、駆動リレーに使用できる 15 個の GPIO / 補助入力があります。4 つの SW 出力を使用して、測定パス内の MOSFET スイッチを駆動できます。本デバイスは SPI ハブとして機能し、最大 8 つの個別 SPI デバイス / グループとのインターフェイスを実現できます。過電流保護応答は、HW ピンを使用して自律的に実現でき、危険な過電流イベントに対して高速な保護が可能になります。絶縁型双方向デイジー・チェーン・ポートは、コンデンサによる絶縁と変圧器による絶縁の両方に対応してます。本デバイスは、SPI 経由で MCU と通信することもできます。
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| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| HTQFP (PHP) | 48 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
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