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open-in-new 代替品と比較
比較対象デバイスと同等の機能で、ピン配置が異なる製品
TPD2E007 アクティブ AC 信号データ インターフェイス向け、デュアル、10pF、±13V、±8kV ESD (静電気放電) 保護ダイオード TPD2E007 has much better capacitance performance, as well as other specifications.

製品詳細

Package name SOT-23 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 2 IO capacitance (typ) (pF) 35 IEC 61000-4-5 (A) 3 Interface type USB 2.0 Breakdown voltage (min) (V) 6.5 IO leakage current (max) (nA) 1000 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
Package name SOT-23 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 60 Vrwm (V) 6 Bi-/uni-directional Uni-Directional Number of channels 2 IO capacitance (typ) (pF) 35 IEC 61000-4-5 (A) 3 Interface type USB 2.0 Breakdown voltage (min) (V) 6.5 IO leakage current (max) (nA) 1000 Rating Catalog Operating temperature range (°C) -40 to 85
SOT-23 (DBV) 6 8.12 mm² 2.9 x 2.8
  • サブミクロンの 3V または 5V 回路をノイズ過渡から保護するように設計
  • 以下を上回るポート ESD 保護性能:
    • 人体モデルで 15kV
    • マシン・モデルで 2kV
  • WCSP チップ・スケール・パッケージで提供
  • スタンドオフ電圧:6V (最小値)
  • 低電流リーク:1µA 以下 (6V の場合)
  • 低キャパシタンス:35pF (標準値)
  • サブミクロンの 3V または 5V 回路をノイズ過渡から保護するように設計
  • 以下を上回るポート ESD 保護性能:
    • 人体モデルで 15kV
    • マシン・モデルで 2kV
  • WCSP チップ・スケール・パッケージで提供
  • スタンドオフ電圧:6V (最小値)
  • 低電流リーク:1µA 以下 (6V の場合)
  • 低キャパシタンス:35pF (標準値)

SN65220 デバイスはデュアル、SN65240 および SN75240 デバイスはクワッドの単方向過渡電圧サプレッサ (TVS) です。これらのデバイスは、USB (Universal Serial Bus) ロー / フルスピード・ポートに対する電気的ノイズ過渡保護を提供します。入力容量が 35pF であるため、ハイスピード USB 2.0 アプリケーションには適していません。

ケーブル接続されたすべての I/O は、各種ノイズ源からの電気的ノイズの過渡現象にさらされる可能性があります。このようなノイズ過渡は、十分な大きさと持続時間を持つ場合、USB トランシーバまたは USB ASIC に損傷を与える可能性があります。

SN65220、SN65240、SN75240 デバイスの ESD 性能は、IEC61000-4-2 に従ってシステム・レベルで測定されています。しかし、システム設計はこれらの試験の結果に影響を及ぼします。高水準の適合性を達成するには、入念な基板設計およびレイアウト技術が必要です。

SN65220 デバイスはデュアル、SN65240 および SN75240 デバイスはクワッドの単方向過渡電圧サプレッサ (TVS) です。これらのデバイスは、USB (Universal Serial Bus) ロー / フルスピード・ポートに対する電気的ノイズ過渡保護を提供します。入力容量が 35pF であるため、ハイスピード USB 2.0 アプリケーションには適していません。

ケーブル接続されたすべての I/O は、各種ノイズ源からの電気的ノイズの過渡現象にさらされる可能性があります。このようなノイズ過渡は、十分な大きさと持続時間を持つ場合、USB トランシーバまたは USB ASIC に損傷を与える可能性があります。

SN65220、SN65240、SN75240 デバイスの ESD 性能は、IEC61000-4-2 に従ってシステム・レベルで測定されています。しかし、システム設計はこれらの試験の結果に影響を及ぼします。高水準の適合性を達成するには、入念な基板設計およびレイアウト技術が必要です。

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技術資料

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* データシート SNx52x0 USB ポート過渡電流サプレッサ データシート (Rev. J 翻訳版) PDF | HTML 英語版 (Rev.J) PDF | HTML 2022年 9月 21日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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