データシート
SN74CB3Q3253
- 高帯域データパス(最高500MHz)(1)
- デバイスの電源オン時とオフ時の両方で5V許容のI/O
- 動作範囲全体にわたって小さく平坦なオン抵抗(ron)特性(ron = 4Ω、標準値)
- データI/Oポートのレール・ツー・レール・スイッチング
- 3.3V VCCで0~5Vのスイッチング
- 2.5V VCCで0~3.3Vのスイッチング
- 伝播遅延がゼロに近い双方向データ・フロー
- 低い入力/出力容量により負荷および信号歪みが最小化(Cio(OFF) = 3.5pF、標準値)
- 高いスイッチング周波数(fOE = 20MHz、最大値)
- データおよび制御入力にアンダーシュート・クランプ・ダイオードを搭載
- 低い消費電力(ICC = 0.6mA、標準値)
- 2.3V~3.6Vの範囲のVCCで動作
- データI/Oは0~5Vの信号レベルに対応(0.8V、1.2V、1.5V、1.8V、2.5V、3.3V、5V)
- 制御入力をTTLまたは5V/3.3V CMOS出力で駆動可能
- Ioffにより部分的パワーダウン・モードをサポート
- JESD 78, Class II準拠で100mA超のラッチアップ性能
- ESD性能はJESD 22に準拠しテスト済み
- 人体モデルで2000V (A114-B、クラス II)
- 荷電デバイス・モデルで1000V (C101)
- デジタルとアナログの両方のアプリケーションに対応: USBインターフェイス、差動信号インターフェイス・バス絶縁、低歪の信号ゲーティング (1)
(1)CB3Qファミリの性能特性の詳細情報については、TIのアプリケーション・レポート『CBT-C、CB3T、CB3Q信号スイッチ・ファミリ』 (SCDA008)を参照してください。
SN74CB3Q3253デバイスは高帯域のFETバス・スイッチで、チャージ・ポンプを使用してパス・トランジスタのゲート電圧を上昇させ、低い平坦なオン抵抗(ron)を実現します。オン抵抗が低く平坦であるため、伝搬遅延を最小限に抑えることができ、データ入出力(I/O)ポートでのレール・ツー・レール・スイッチングをサポートします。
技術資料
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インターフェイス・アダプタ
LEADED-ADAPTER1 — TI の 5、8、10、16、24 ピン・リード付きパッケージの迅速なテスト向けの表面実装から DIP ヘッダーへのアダプタ
EVM-LEADED1 ボードは、TI の一般的なリード付きパッケージによる迅速なテストとブレッド・ボードへの対応を可能にします。 TI の D、DBQ、DCT、DCU、DDF、DGS、DGV、PW 表面実装パッケージを 100mil DIP ヘッダに変換するフットプリントを用意しています。
ユーザー ガイド: PDF
インターフェイス・アダプタ
LEADLESS-ADAPTER1 — TI の 6、8、10、12、16、20 ピン・リードレス・パッケージの迅速なテスト向けの表面実装から DIP ヘッダーへのアダプタ
The EVM-LEADLESS1 board allows for quick testing and bread boarding of TI's common leadless packages. The board has footprints to convert TI's DRC, DTP, DQE, RBW, RGY, RSE, RSV, RSW RTE, RTJ, RUK , RUC, RUG, RUM,RUT and YZP surface mount packages to 100mil DIP headers.
ユーザー ガイド: PDF
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SSOP (DBQ) | 16 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 16 | Ultra Librarian |
TVSOP (DGV) | 16 | Ultra Librarian |
VQFN (RGY) | 16 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。