TPD1S514
- VBUS_CON で最大 DC 30V の過電圧保護
- 高精度の OVP (許容誤差 ±1% 未満)
- 低 RON の nFET スイッチで、ホストおよび充電モードに対応
- 専用の VBUS_POWER ピンにより、デッド・バッテリ状態での柔軟な起動オプションを提供
- VBUS ラインの過渡保護
- IEC 61000-4-2 接触放電 ±15kV
- IEC 61000-4-2 エアーギャップ放電 ±15kV
- IEC 61000-4-5 開路電圧 100V
- 高精度のクランプ回路により、VBUS_SYS 電圧を VOVP 未満に制限
- USB 突入電流に準拠
- サーマル・シャットダウン (TSD) 機能
TPD1S514 ファミリは、5V、9V、12V の USB VBUS ライン、または他の電力バス用の、シングル・チップ保護ソリューションで構成されます。双方向 nFET スイッチにより、VBUS_CON ピンのいかなる過電圧条件からも内部システム回路を保護しながら、充電とホストのどちらのモードでも安全な電流フローを保証します。VBUS_CON ピンでは、このデバイスは最大 DC 30V の過電圧保護に対応できます。EN ピンが LOW になった後、TPD1S514 ファミリのすべてのデバイスはソフトスタート遅延により 20ms 待ってから nFET をオンにします。
TPD1S514 ファミリの代表的なアプリケーション・インターフェイスは、携帯電話、タブレット、電子書籍、携帯用メディア・プレーヤなどで一般的に使用されている USB 接続の VBUS ラインです。また TPD1S514 ファミリは、5V、9V、12V 電源レールのインターフェイスを使用する任意のシステムに使用可能です。
技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | TPD1S514x VBUS ピン用の過電圧、サージ、ESD 保護機能搭載 USB チャージャ・ファミリ データシート (Rev. F 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.F) | PDF | HTML | 2019年 8月 26日 |
ユーザー・ガイド | Reading and Understanding an ESD Protection Data Sheet (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 9月 19日 | |||
アプリケーション・ノート | ESD Protection Layout Guide (Rev. A) | PDF | HTML | 2022年 4月 7日 | |||
技術記事 | Big USB Type-C™ protection for your small application | PDF | HTML | 2017年 7月 31日 | |||
セレクション・ガイド | ESD by Interface Selection Guide (Rev. A) | 2017年 6月 26日 | ||||
ホワイト・ペーパー | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 | ||||
ユーザー・ガイド | TPD1S514-2EVM User’s Guide | 2014年 7月 24日 | ||||
ユーザー・ガイド | TPD1S514-3EVM User’s Guide | 2014年 7月 24日 | ||||
EVM ユーザー ガイド (英語) | TPD1S514EVM (Rev. A) | 2014年 5月 7日 | ||||
Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
TPD1S514-1EVM — TPD1S514-1EVM:USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
Texas Instrument’s TPD1S514 evaluation module helps designers evaluate the operation and performance of the TPD1S514 device. The TPD1S514 is a single-chip solution for USB connector’s VBUS line protection. The bi-directional nFET switch ensures safe current flow in both charging and (...)
TPD1S514-3EVM — TPD3S514-1EVM:USB チャージャ、過電圧、サージ、および ESD 保護、VBUS_CON Pin 用
Texas Instrument’s TPD1S514-3 evaluation module helps designers evaluate the operation and performance of the TPD1S514-3 device. The TPD1S514-3 is a single-chip solution for a USB connector’s VBUS line protection. The bi-directional nFET switch ensures safe current flow in both charging (...)
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設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
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パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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DSBGA (YZ) | 12 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点