データシート
TPD4E110
- Provides System Level ESD Protection for Low-Voltage IO Interface
- IO Capacitance 0.45pF (Typ)
- IEC 61000-4-2 Level 4
- ±12kV (Contact Discharge)
- ±15kV (Air Gap Discharge)
- IEC61000-4-5 (Surge): 2.5A (8/20 µs)
- DC Breakdown Voltage 6.5V (Min)
- Ultra Low Leakage Current 1nA (Max)
- Low ESD Clamping Voltage
- Industrial Temperature Range: –40°C to 125°C
- Space Minimizing 0.8mm x 0.8mm DPW Package
The TPD4E110 is a uni-directional Electrostatic Discharge (ESD) protection device with ultra-low capacitance. The device is constructed with a central ESD clamp and features two hiding diodes per channel to reduce the capacitive loading. Each channel is rated to dissipate ESD strikes above the maximum level specified in the IEC61000-4-2 level 4 international standard. The TPD4E110's ultra-low loading capacitance makes the device ideal for protecting high-speed signal pins.
技術資料
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|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPD4E110 4 Channel Protection Solution for Super-Speed (Up to 6 GBPS) Interface データシート (Rev. B) | PDF | HTML | 2014年 4月 10日 | ||
| アプリケーション・ノート | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |||
| アプリケーション概要 | ESD Protection for HDMI Applications (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 11月 1日 | |||
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| ホワイト・ペーパー | Designing USB for short-to-battery tolerance in automotive environments | 2016年 2月 10日 | ||||
| Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
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評価ボード
ESDEVM — ESD の評価基板
静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| X2SON (DPW) | 4 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。