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CD4504B

アクティブ

CMOS ヘキサ電圧レベル・シフタ、TTL/CMOS ・ CMOS/CMOS シフト

製品詳細

Technology family CD4000 Bits (#) 6 Configuration 6 Ch B to A 0 Ch A to B High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 18 Vout (min) (V) 2047036 Vout (max) (V) 18 Data rate (max) (Mbps) 24 IOH (max) (mA) -6.8 IOL (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 18 Features 22, 59.4, 181.42 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
Technology family CD4000 Bits (#) 6 Configuration 6 Ch B to A 0 Ch A to B High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 18 Vout (min) (V) 2047036 Vout (max) (V) 18 Data rate (max) (Mbps) 24 IOH (max) (mA) -6.8 IOL (max) (mA) -6.8 Supply current (max) (µA) 18 Features 22, 59.4, 181.42 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Balanced CMOS, Push-Pull Rating Catalog Operating temperature range (°C) -55 to 125
PDIP (N) 16 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 16 59.4 mm² 9.9 x 6 TSSOP (PW) 16 32 mm² 5 x 6.4
  • Independence of power-supply sequence considerations - VCC can exceed VDD; input signals can exceed both VCC and VDD
  • Up and down level-shifting capability
  • Shiftable input threshold for either CMOS or TTL compatibility
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current @ 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5V, 10 V, and 15 V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor.

  • Independence of power-supply sequence considerations - VCC can exceed VDD; input signals can exceed both VCC and VDD
  • Up and down level-shifting capability
  • Shiftable input threshold for either CMOS or TTL compatibility
  • Standardized symmetrical output characteristics
  • 100% tested for quiescent current @ 20 V
  • Maximum input current of 1 µA at 18 V over full package-temperature range; 100 nA at 18 V and 25°C
  • 5V, 10 V, and 15 V parametric ratings
  • Meets all requirements of JEDEC Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of ’B’ Series CMOS Devices"

Data sheet acquired from Harris Semiconductor.

CD4504B hex voltage level-shifter consists of six circuits which shift input signals from the VCC logic level to the VDD logic level. To shift TTL signals to CMOS logic levels, the SELECT input is at the VCC HIGH logic state. When the SELECT input is a LOW logic state, each circuit translates signals from one CMOS level to another.

The CD4504B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, and MT suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

CD4504B hex voltage level-shifter consists of six circuits which shift input signals from the VCC logic level to the VDD logic level. To shift TTL signals to CMOS logic levels, the SELECT input is at the VCC HIGH logic state. When the SELECT input is a LOW logic state, each circuit translates signals from one CMOS level to another.

The CD4504B types are supplied in 16-lead hermetic dual-in-line ceramic packages (F3A suffix), 16-lead dual-in-line plastic packages (E suffix), 16-lead small-outline packages (M, M96, and MT suffixes), and 16-lead thin shrink small-outline packages (PW and PWR suffixes).

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
PDIP (N) 16 Ultra Librarian
SOIC (D) 16 Ultra Librarian
TSSOP (PW) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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