ホーム ロジックと電圧変換 フリップ・フロップ、ラッチ、レジスタ JK フリップ・フロップ

CD54AC109

アクティブ

セットとリセット搭載、デュアル・ポジティブ・エッジ・トリガ J-K フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) -24 IOH (max) (mA) 24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Positive edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 2 Technology family AC Supply voltage (min) (V) 1.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type LVTTL/CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (MHz) 100 Supply current (max) (µA) 80 IOL (max) (mA) -24 IOH (max) (mA) 24 Features Balanced outputs, Clear, High speed (tpd 10-50ns), Positive edge triggered, Positive input clamp diode, Preset Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

  • AC Types Feature 1.5-V to 5.5-V Operation and Balanced Noise Immunity at 30% of the Supply Voltage
  • Speed of Bipolar F, AS, and S, With Significantly Reduced Power Consumption
  • Balanced Propagation Delays
  • ±24-mA Output Drive Current
    • Fanout to 15 F Devices
  • SCR-Latchup-Resistant CMOS Process and Circuit Design
  • Exceeds 2-kV ESD Protection Per MIL-STD-883, Method 3015

The ’AC109 devices contain two independent J-K\ positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K\ inputs meeting the setup-time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K\ inputs can be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by grounding K\ and tying J high. They also can perform as D-type flip-flops if J and K\ are tied together.

The ’AC109 devices contain two independent J-K\ positive-edge-triggered flip-flops. A low level at the preset (PRE)\ or clear (CLR)\ inputs sets or resets the outputs, regardless of the levels of the other inputs. When PRE\ and CLR\ are inactive (high), data at the J and K\ inputs meeting the setup-time requirements are transferred to the outputs on the positive-going edge of the clock (CLK) pulse. Clock triggering occurs at a voltage level and is not directly related to the rise time of the clock pulse. Following the hold-time interval, data at the J and K\ inputs can be changed without affecting the levels at the outputs. These versatile flip-flops can perform as toggle flip-flops by grounding K\ and tying J high. They also can perform as D-type flip-flops if J and K\ are tied together.

ダウンロード

技術資料

star =TI が選定したこの製品の主要ドキュメント
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示
種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD54AC109, CD74AC109 データシート 2003年 1月 24日

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

TI E2E™ フォーラムでは、TI のエンジニアからの技術サポートを提供

コンテンツは、TI 投稿者やコミュニティ投稿者によって「現状のまま」提供されるもので、TI による仕様の追加を意図するものではありません。使用条件をご確認ください。

TI 製品の品質、パッケージ、ご注文に関するお問い合わせは、TI サポートをご覧ください。​​​​​​​​​​​​​​