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CD54HCT174

アクティブ

ハイスピード CMOS ロジック、リセット搭載、ヘキサ D タイプ・フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 6 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 13 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 6 Technology family HCT Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 13 IOL (max) (mA) 4 IOH (max) (mA) -4 Supply current (max) (µA) 160 Features Balanced outputs, High speed (tpd 10-50ns), Positive input clamp diode Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • Buffered Positive Edge Triggered Clock
  • Asynchronous Common Reset
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs. . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . -55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH
  • Buffered Positive Edge Triggered Clock
  • Asynchronous Common Reset
  • Fanout (Over Temperature Range)
    • Standard Outputs. . . . . . . . . . . . . . . 10 LSTTL Loads
    • Bus Driver Outputs . . . . . . . . . . . . . 15 LSTTL Loads
  • Wide Operating Temperature Range . . . -55°C to 125°C
  • Balanced Propagation Delay and Transition Times
  • Significant Power Reduction Compared to LSTTL Logic ICs
  • HC Types
    • 2V to 6V Operation
    • High Noise Immunity: NIL = 30%, NIH = 30% of VCC at VCC = 5V
  • HCT Types
    • 4.5V to 5.5V Operation
    • Direct LSTTL Input Logic Compatibility, VIL = 0.8V (Max), VIH = 2V (Min)
    • CMOS Input Compatibility, Il 1µA at VOL, VOH

The ’HC174 and ’HCT174 are edge triggered flip-flops which utilize silicon gate CMOS circuitry to implement D-type flip-flops. They possess low power and speeds comparable to low power Schottky TTL circuits. The devices contain six master-slave flip-flops with a common clock and common reset. Data on the D input having the specified setup and hold times is transferred to the Q output on the low to high transition of the CLOCK input. The MR\ input, when low, sets all outputs to a low state.

Each output can drive ten low power Schottky TTL equivalent loads. The ’HCT174 is functional as well as, pin compatible to the ’LS174.

The ’HC174 and ’HCT174 are edge triggered flip-flops which utilize silicon gate CMOS circuitry to implement D-type flip-flops. They possess low power and speeds comparable to low power Schottky TTL circuits. The devices contain six master-slave flip-flops with a common clock and common reset. Data on the D input having the specified setup and hold times is transferred to the Q output on the low to high transition of the CLOCK input. The MR\ input, when low, sets all outputs to a low state.

Each output can drive ten low power Schottky TTL equivalent loads. The ’HCT174 is functional as well as, pin compatible to the ’LS174.

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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート CD54HC174, CD74HC174, CD54HCT174, CD74HCT174 データシート (Rev. C) 2003年 10月 13日
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アプリケーション・ノート SN54/74HCT CMOS Logic Family Applications and Restrictions 1996年 5月 1日
アプリケーション・ノート Using High Speed CMOS and Advanced CMOS in Systems With Multiple Vcc 1996年 4月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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