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CY74FCT273T

アクティブ

クリア搭載、オクタル D タイプ・フリップ・フロップ

製品詳細

Number of channels 8 Technology family FCT Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 100 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 200 Features Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
Number of channels 8 Technology family FCT Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Input type TTL-Compatible CMOS Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 100 IOL (max) (mA) 64 IOH (max) (mA) -32 Supply current (max) (µA) 200 Features Partial power down (Ioff), Very high speed (tpd 5-10ns) Operating temperature range (°C) -40 to 85 Rating Catalog
SOIC (DW) 20 131.84 mm² 12.8 x 10.3 SSOP (DBQ) 20 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Matched Rise and Fall Times
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • CY54FCT273T
    • 32-mA Output Sink Current
    • 12-mA Output Source Current
  • CY74FCT273T
    • 64-mA Output Sink Current
    • 32-mA Output Source Current

  • Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
  • Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
  • Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
  • Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
  • Matched Rise and Fall Times
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)
  • Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
  • CY54FCT273T
    • 32-mA Output Sink Current
    • 12-mA Output Source Current
  • CY74FCT273T
    • 64-mA Output Sink Current
    • 32-mA Output Source Current

The \x92FCT273T devices consist of eight edge-triggered D-type flip-flops with individual D inputs and Q outputs. The common buffered-clock (CP) and master-reset (MR\) inputs load and reset all flip-flops simultaneously. These devices are edge-triggered registers. The state of each D input (one setup time before the low-to-high clock transition) is transferred to the corresponding flip-flop\x92s Q output. All outputs are forced low by a low logic level on the MR\ input.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

The \x92FCT273T devices consist of eight edge-triggered D-type flip-flops with individual D inputs and Q outputs. The common buffered-clock (CP) and master-reset (MR\) inputs load and reset all flip-flops simultaneously. These devices are edge-triggered registers. The state of each D input (one setup time before the low-to-high clock transition) is transferred to the corresponding flip-flop\x92s Q output. All outputs are forced low by a low logic level on the MR\ input.

This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.

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技術資料

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設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

評価ボード

14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板

14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。

ユーザー ガイド: PDF | HTML
パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
SOIC (DW) 20 Ultra Librarian
SSOP (DBQ) 20 Ultra Librarian

購入と品質

記載されている情報:
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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