CY74FCT543T
- Function, Pinout, and Drive Compatible With FCT and F Logic
- Reduced VOH (Typically = 3.3 V) Versions of Equivalent FCT Functions
- Edge-Rate Control Circuitry for Significantly Improved Noise Characteristics
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode Operation
- Matched Rise and Fall Times
- Fully Compatible With TTL Input and Output Logic Levels
- 3-State Outputs
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human-Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- Separation Controls for Data Flow in Each Direction
- Back-to-Back Latches for Storage
- CY54FCT543T
- 48-mA Output Sink Current
- 12-mA Output Source Current
- CY74FCT543T
- 64-mA Output Sink Current
- 32-mA Output Source Current
The \x92FCT543T octal latched transceivers contain two sets of eight D-type latches with separate latch-enable (LEAB\, LEBA\) and output-enable (OEAB\, OEBA\) inputs for each set to permit independent control of input and output in either direction of data flow. For data flow from A to B, for example, the A-to-B enable (CEAB\) input must be low in order to enter data from A or to take data from B, as indicated in the function table. With CEAB\ low, a low signal on the A-to-B latch-enable (LEAB\) input makes the A-to-B latches transparent; a subsequent low-to-high transition of the LEAB\ signal puts the A latches in the storage mode and their outputs no longer change with the A inputs. With CEAB\ and OEAB\ low, the 3-state B-output buffers are active and reflect the data present at the output of the A latches. Control of data from B to A is similar, but uses CEBA\, LEBA\, and OEBA\ inputs.
These devices are fully specified for partial-power-down applications using Ioff. The Ioff circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
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技術資料
種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | 8-Bit Latched Registered Transceivers With 3-State Outputs データシート (Rev. A) | 2001年 10月 1日 | |||
セレクション・ガイド | Logic Guide (Rev. AB) | 2017年 6月 12日 | ||||
アプリケーション・ノート | Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) | 2015年 12月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) | 最新英語版 (Rev.AB) | 2014年 11月 6日 | |||
ユーザー・ガイド | LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) | 2007年 1月 16日 | ||||
アプリケーション・ノート | Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection | 2004年 7月 8日 | ||||
アプリケーション・ノート | Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) | 2004年 6月 22日 | ||||
ユーザー・ガイド | CYFCT Parameter Measurement Information | 2001年 4月 2日 | ||||
セレクション・ガイド | Advanced Bus Interface Logic Selection Guide | 2001年 1月 9日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SOIC (DW) | 24 | Ultra Librarian |
SSOP (DBQ) | 24 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点