データシート
ESD341
- IEC 61000-4-2 レベル 4 ESD 保護
- 30kV 接触放電
- 30kV エアギャップ放電
- IEC 61000-4-5 サージ保護
- 5.4A (8/20µs)
- IO 容量：
- 0.66pF (標準値)
- DC ブレークダウン電圧：±6.2V (標準値)
- 超低リーク電流：100nA (最大値)
- 低い ESD クランプ電圧：10.2V (16A TLP の場合)
- 低挿入損失：5GHz (–3dB 帯域幅、DPL)
- 最大 3.4Gbps の高速インターフェイスをサポート
- 産業用温度範囲：–40℃～+125℃
- 省スペースの業界標準 0201 フットプリント (0.6mm × 0.3mm × 0.3mm)
ESD341 は、HDMI 1.4 回路保護用の双方向 TVS ESD 保護ダイオードです。 ESD341 は、IEC 61000-4-2 国際規格で規定されている最大レベル (レベル 4) の ESD 耐性を備えています。
このデバイスの IO 容量は 0.66pF (標準値) で、最高 3.4Gbps の高速インターフェイス保護を実現し、 HDMI 1.4b などのプロトコルをサポートしています。低い動的抵抗および低いクランピング電圧により、過渡現象に対してシステム・レベルの保護を確保します。
30kV の ESD 定格と 5.4A のサージ耐性を備えており、小型パッケージで堅牢な過渡保護を提供し、ポータブル電子機器やウェアラブルなどスペースに制約のあるアプリケーションで 3.6V の電源レールを保護します。
ESD341 は、業界標準の 0201 (DPL) パッケージで供給されます。
技術資料
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7 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | ESD341 1 チャネル ±30kV ESD 保護ダイオード、0201 パッケージ データシート (Rev. A 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.A) | PDF | HTML | 2022年 9月 15日 |
| アプリケーション・ノート | ESD and Surge Protection for USB Interfaces (Rev. B) | PDF | HTML | 2024年 1月 11日 | |||
| アプリケーション概要 | ESD Protection for HDMI Applications (Rev. A) | PDF | HTML | 2023年 11月 1日 | |||
| 製品概要 | Isolated USB Repeater (Rev. B) | PDF | HTML | 2023年 8月 22日 | |||
| セレクション・ガイド | System-Level ESD Protection Guide (Rev. D) | 2022年 9月 7日 | ||||
| アプリケーション・ノート | ESD Packaging and Layout Guide (Rev. B) | PDF | HTML | 2022年 8月 18日 | |||
| Analog Design Journal | Design Considerations for System-Level ESD Circuit Protection | 2012年 9月 25日 |
設計および開発
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評価ボード
ESDEVM — ESD の評価基板
静電気敏感性デバイス (ESD) の評価基板 (EVM) は、TI の ESD 製品ラインアップのほとんどに対応する開発プラットフォームです。この基板には、任意の数のデバイスをテストできるように、従来型の ESD フットプリントがすべて実装されています。デバイスは、適切なフットプリントに半田付けしてからテストすることができます。標準的な高速 ESD ダイオードの場合、インピーダンス制御されたレイアウトを実装することで、S パラメータを受け入れ、基板パターンの埋め込みを解除します。高速ではない ESD ダイオードの場合、テスト (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| X2SON (DPL) | 2 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。