データシート
この製品には新バージョンがあります。
比較対象デバイスと類似の機能
LMZ31704
- 小さな占有面積で低プロファイルの設計を可能にする完全な統合電源ソリューション
- 10mm×10mm×4.3mmのパッケージ
- LMZ31710 および LMZ31707 とピン互換
- 最大 95% の効率
- Eco-mode™/軽負荷時効率 (LLE)
- 0.6V~5.5V の範囲で可変の広い出力電圧、リファレンス精度 1%
- 並列動作によって大電流をサポート
- オプションの分割電源レールにより最小 2.95V の入力電圧を使用可能
- 可変スイッチング周波数 (200kHz~1.2MHz)
- 外部クロックに同期
- 位相差 180°のクロック信号を供給
- 可変スロー・スタート
- 出力電圧のシーケンシングとトラッキング
- パワー・グッド出力
- 低電圧誤動作防止 (UVLO) をプログラム可能
- 過電流および過熱保護
- プリバイアス出力によるスタートアップ
- 動作温度範囲: -40°C~85°C
- 強化された熱特性: 13.3°C/W
- EN55022 Class B の放射規格に準拠
- シールド付きインダクタを内蔵
- WEBENCH® Power Designer により、LMZ31704 を使用するカスタム設計を作成
LMZ31704パワー・モジュールは、4AのDC/DCコンバータをパワーMOSFET、シールド付きインダクタ、およびパッシブ部品とともに低プロファイルのQFNパッケージに実装した、使いやすい集積電源ソリューションです。外部部品は3個しか使用せず、ループ補償や磁気部品の選択プロセスも不要になります。
10×10×4.3mmのQFNパッケージは、プリント基板に簡単にハンダ付けでき、コンパクトなポイント・オブ・ロード(POL)設計が可能です。13.3℃/W の熱インピーダンスにより、95% を超える効率と優れた消費電力特性を実現します。LMZ31704 は、ディスクリート POL 設計と同等の柔軟性および機能セットを備え、幅広い範囲の IC やシステムへの電力供給に理想的です。先進のパッケージング技術により、標準のQFN実装/試験手法に対応した堅牢で信頼性の高い電源ソリューションが得られます。
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
16 をすべて表示 設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
LMZ31704EVM-003 — LMZ31704 4A SIMPLE SWITCHER モジュール評価基板
The Texas Instruments LMZ31704EVM-003 evaluation module (EVM) is a fully assembled and tested circuit for evaluating the LMZ31704 4A Power Module. The EVM operates with an input voltage range of 2.95V to 17V. The output voltage can be selected from four preset values using a jumper (0.6V, 0.9V, (...)
リファレンス・デザイン
PMP10630 — Xilinx Kintex UltraScale XCKU040 FPGA 電源ソリューション、6W、リファレンス・デザイン
PMP10630 は、Xilinx® Kintex® UltraScale™ XCKU040 FPGA 向けの包括的な高密度パワー・ソリューションを実現するリファレンス・デザインです。このリファレンス・デザインは、SIMPLE SWITCHER® モジュールと複数の LDO を組み合わせており、36 x 43mm(1.4 x 1.7 インチ)の小型ソリューション・サイズで、必要な電圧レールすべてを提供します。このリファレンス・デザインは、LMZ31704 LMZ3 シリーズのモジュールを搭載し、コア・レールと 3 個の LMZ21700/1 (...)
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
B3QFN (RVQ) | 42 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点