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SN54LS76A

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プリセットとクリア搭載、デュアル、J-K フリップ・フロップ

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製品詳細

Number of channels 2 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 45 IOL (max) (mA) 16 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 4000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
Number of channels 2 Technology family LS Supply voltage (min) (V) 4.5 Supply voltage (max) (V) 5.5 Input type Bipolar Output type Push-Pull Clock frequency (max) (MHz) 45 IOL (max) (mA) 16 IOH (max) (mA) -0.4 Supply current (max) (µA) 4000 Features High speed (tpd 10-50ns) Operating temperature range (°C) -55 to 125 Rating Military
CDIP (J) 16 135.3552 mm² 19.56 x 6.92
  • Package Options Include Plastic and Ceramic DIPs and Ceramic Flat Packages
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 
  • Package Options Include Plastic and Ceramic DIPs and Ceramic Flat Packages
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

The '76 contains two independent J-K flip-flops with individual J-K, clock, preset, and clear inputs. The '76 is a positive-edge-triggered flip-flop. J-K input is loaded into the master while the clock is high and transferred to the slave on the high-to-low transition. For these devices the J and K inputs must be stable while the clock is high.

The 'LS76A contain two independent negative-edge-triggered flip-flops. The J and K inputs must be stable one setup time prior to the high-to-low clock transition for predictable operation. The preset and clear are asynchronous active low inputs. When low they override the clock and data inputs forcing the outputs to the steady state levels as shown in the function table.

The SN5476 and the SN54LS76A are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN7476 and the SN74LS76A are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

The '76 contains two independent J-K flip-flops with individual J-K, clock, preset, and clear inputs. The '76 is a positive-edge-triggered flip-flop. J-K input is loaded into the master while the clock is high and transferred to the slave on the high-to-low transition. For these devices the J and K inputs must be stable while the clock is high.

The 'LS76A contain two independent negative-edge-triggered flip-flops. The J and K inputs must be stable one setup time prior to the high-to-low clock transition for predictable operation. The preset and clear are asynchronous active low inputs. When low they override the clock and data inputs forcing the outputs to the steady state levels as shown in the function table.

The SN5476 and the SN54LS76A are characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN7476 and the SN74LS76A are characterized for operation from 0°C to 70°C.

 
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート Dual J-K Flip-Flops With Preset And Clear データシート 1988年 3月 1日
* SMD SN54LS76A SMD 7601301EA 2016年 6月 21日
アプリケーション・ノート Power-Up Behavior of Clocked Devices (Rev. B) PDF | HTML 2022年 12月 15日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
アプリケーション・ノート Designing With Logic (Rev. C) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート Designing with the SN54/74LS123 (Rev. A) 1997年 3月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
CDIP (J) 16 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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