SN74LVC1G06
- ESD Protection Exceeds JESD 22
- 2000-V Human Body Model (A114-A)
- 200-V Machine Model (A115-A)
- 1000-V Charged-Device Model (C101)
- Available in the Texas Instruments
NanoFree™ Package - Supports 5-V VCC Operation
- Input and Open-Drain Output Accept
Voltages up to 5.5 V - Maximum tpd of 4.5 ns at 3.3 V at 125°C
- Low Power Consumption, 10-µA Maximum ICC
- ±24-mA Output Drive at 3.3 V for open-drain devices
- Ioff Supports Partial-Power-Down Mode and Back-Drive Protection
- Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per
JESD 78, Class II - Can Be Used For Up or Down Translation
- Schmitt Trigger Action on All Ports
This single inverter buffer and driver is designed for 1.65-V to 5.5-V VCC operation.
NanoFree package technology is a major breakthrough in IC packaging concepts, using the die as the package.
The output of the SN74LVC1G06 device is open-drain and can be connected to other open-drain outputs to implement active-low wired-OR or active-high wired-AND functions. The maximum sink current is 32 mA.
This device is fully specified for partial-power-down applications using Ioff.The Ioff circuitry disables the outputs when the device is powered down. This inhibits current backflow into the device which prevents damage to the device.
より小型で製造時に扱いやすいパッケージ オプションが入手可能
このデバイスは現在、スペースに制約のある設計に適した、0.8 x 0.8 x 0.4mm の DPW パッケージに封止済みです。ご注文はこちら
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技術資料
設計および開発
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5-8-LOGIC-EVM — 5 ~ 8 ピンの DCK、DCT、DCU、DRL、DBV の各パッケージをサポートする汎用ロジックの評価基板 (EVM)
多くの TI リファレンス デザインには、SN74LVC1G06 があります。
TI のリファレンス デザイン セレクション ツールを使用すると、開発中のアプリケーションやパラメータとの適合度が最も高いデザインの確認と特定を進めることができます。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
DSBGA (YZP) | 5 | Ultra Librarian |
DSBGA (YZV) | 4 | Ultra Librarian |
SOT-23 (DBV) | 5 | Ultra Librarian |
SOT-5X3 (DRL) | 5 | Ultra Librarian |
SOT-SC70 (DCK) | 5 | Ultra Librarian |
USON (DRY) | 6 | Ultra Librarian |
X2SON (DPW) | 5 | Ultra Librarian |
X2SON (DSF) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点