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SN74LVC4245A-EP

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エンハンスド製品、3 ステート出力、オクタル・バス・トランシーバと 3.3V ～ 5V のシフタ

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製品詳細

Technology family LVC Bits (#) 8 High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 2.7 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 200 IOH (max) (mA) -24 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 130 Features Output enable Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
Technology family LVC Bits (#) 8 High input voltage (min) (V) 2 High input voltage (max) (V) 5.5 Vout (min) (V) 2.7 Vout (max) (V) 5.5 Data rate (max) (Mbps) 200 IOH (max) (mA) -24 IOL (max) (mA) 24 Supply current (max) (µA) 130 Features Output enable Input type Standard CMOS Output type 3-State, Balanced CMOS, Push-Pull Rating HiRel Enhanced Product Operating temperature range (°C) -40 to 85
TSSOP (PW) 24 49.92 mm² 7.8 x 6.4
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Bidirectional Voltage Translator
  • 5.5 V on A Port and 2.7 V to 3.6 V on B Port
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.
  • Controlled Baseline
    • One Assembly/Test Site, One Fabrication Site
  • Enhanced Diminishing Manufacturing Sources (DMS) Support
  • Enhanced Product-Change Notification
  • Qualification Pedigree
  • Bidirectional Voltage Translator
  • 5.5 V on A Port and 2.7 V to 3.6 V on B Port
  • Latch-Up Performance Exceeds 250 mA Per JESD 17
  • ESD Protection Exceeds JESD 22
    • 2000-V Human-Body Model (A114-A)
    • 200-V Machine Model (A115-A)
    • 1000-V Charged-Device Model (C101)

Component qualification in accordance with JEDEC and industry standards to ensure reliable operation over an extended temperature range. This includes, but is not limited to, Highly Accelerated Stress Test (HAST) or biased 85/85, temperature cycle, autoclave or unbiased HAST, electromigration, bond intermetallic life, and mold compound life. Such qualification testing should not be viewed as justifying use of this component beyond specified performance and environmental limits.

This 8-bit (octal) noninverting bus transceiver contains two separate supply rails; B port has VCCB, which is set at 3.3 V, and A port has VCCA, which is set at 5 V. This allows for translation from a 3.3-V to a 5-V environment, and vice versa.

The SN74LVC4245A is designed for asynchronous communication between data buses. The device transmits data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so the buses are effectively isolated.

The SN74LVC4245A pinout allows the designer to switch to a normal all-3.3-V or all-5-V 20-pin ’245 device without board re-layout. The designer uses the data paths for pins 2-11 and 14-23 of the SN74LVC4245A to align with the conventional ’245 pinout.

This 8-bit (octal) noninverting bus transceiver contains two separate supply rails; B port has VCCB, which is set at 3.3 V, and A port has VCCA, which is set at 5 V. This allows for translation from a 3.3-V to a 5-V environment, and vice versa.

The SN74LVC4245A is designed for asynchronous communication between data buses. The device transmits data from the A bus to the B bus or from the B bus to the A bus, depending on the logic level at the direction-control (DIR) input. The output-enable (OE)\ input can be used to disable the device so the buses are effectively isolated.

The SN74LVC4245A pinout allows the designer to switch to a normal all-3.3-V or all-5-V 20-pin ’245 device without board re-layout. The designer uses the data paths for pins 2-11 and 14-23 of the SN74LVC4245A to align with the conventional ’245 pinout.
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技術資料

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種類 タイトル 最新の英語版をダウンロード 日付
* データシート SN74LVC4245A-EP データシート 2003年 12月 1日
* VID SN74LVC4245A-EP VID V6204664 2016年 6月 21日
* 放射線と信頼性レポート SN74LVC4245AIPWREP Reliability Report 2011年 8月 26日
アプリケーション・ノート Schematic Checklist - A Guide to Designing With Fixed or Direction Control Translators PDF | HTML 2024年 10月 2日
アプリケーション・ノート Schematic Checklist - A Guide to Designing with Auto-Bidirectional Translators PDF | HTML 2024年 7月 12日
アプリケーション・ノート Understanding Transient Drive Strength vs. DC Drive Strength in Level-Shifters (Rev. A) PDF | HTML 2024年 7月 3日
アプリケーション・ノート Implications of Slow or Floating CMOS Inputs (Rev. E) 2021年 7月 26日
セレクション・ガイド Voltage Translation Buying Guide (Rev. A) 2021年 4月 15日
セレクション・ガイド Little Logic Guide 2018 (Rev. G) 2018年 7月 6日
セレクション・ガイド Logic Guide (Rev. AB) 2017年 6月 12日
アプリケーション・ノート How to Select Little Logic (Rev. A) 2016年 7月 26日
アプリケーション・ノート Understanding and Interpreting Standard-Logic Data Sheets (Rev. C) 2015年 12月 2日
セレクション・ガイド ロジック・ガイド (Rev. AA 翻訳版) 最新英語版 (Rev.AB) 2014年 11月 6日
ユーザー・ガイド LOGIC Pocket Data Book (Rev. B) 2007年 1月 16日
製品概要 Design Summary for WCSP Little Logic (Rev. B) 2004年 11月 4日
アプリケーション・ノート Semiconductor Packing Material Electrostatic Discharge (ESD) Protection 2004年 7月 8日
アプリケーション・ノート Selecting the Right Level Translation Solution (Rev. A) 2004年 6月 22日
ユーザー・ガイド Signal Switch Data Book (Rev. A) 2003年 11月 14日
アプリケーション・ノート Use of the CMOS Unbuffered Inverter in Oscillator Circuits 2003年 11月 6日
ユーザー・ガイド LVC and LV Low-Voltage CMOS Logic Data Book (Rev. B) 2002年 12月 18日
アプリケーション・ノート Texas Instruments Little Logic Application Report 2002年 11月 1日
アプリケーション・ノート TI IBIS File Creation, Validation, and Distribution Processes 2002年 8月 29日
その他の技術資料 Standard Linear & Logic for PCs, Servers & Motherboards 2002年 6月 13日
アプリケーション・ノート 16-Bit Widebus Logic Families in 56-Ball, 0.65-mm Pitch Very Thin Fine-Pitch BGA (Rev. B) 2002年 5月 22日
アプリケーション・ノート Power-Up 3-State (PU3S) Circuits in TI Standard Logic Devices 2002年 5月 10日
その他の技術資料 STANDARD LINEAR AND LOGIC FOR DVD/VCD PLAYERS 2002年 3月 27日
アプリケーション・ノート Migration From 3.3-V To 2.5-V Power Supplies For Logic Devices 1997年 12月 1日
アプリケーション・ノート Bus-Interface Devices With Output-Damping Resistors Or Reduced-Drive Outputs (Rev. A) 1997年 8月 1日
アプリケーション・ノート CMOS Power Consumption and CPD Calculation (Rev. B) 1997年 6月 1日
アプリケーション・ノート LVC Characterization Information 1996年 12月 1日
アプリケーション・ノート Input and Output Characteristics of Digital Integrated Circuits 1996年 10月 1日
アプリケーション・ノート Live Insertion 1996年 10月 1日
設計ガイド Low-Voltage Logic (LVC) Designer's Guide 1996年 9月 1日
アプリケーション・ノート Understanding Advanced Bus-Interface Products Design Guide 1996年 5月 1日

設計および開発

その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。

パッケージ ピン数 CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル
TSSOP (PW) 24 Ultra Librarian
TI の評価品に関する標準契約約款が適用されます。

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

サポートとトレーニング

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