データシート
TPS2376-H
- 可変ターンオン・スレッショルド
- 高電力26W設計に対応
- 0.58Ω、100V、ローサイド・スイッチ搭載
- 15kVシステム・レベルESD対応
- 工業用温度範囲: -40°C～85℃
- 8ピン PowerPad™SOICパッケージ
この8ピン集積回路には、IEEE 802.3afに準拠した高電力受電デバイス(PD)の開発に必要な機能がすべて搭載されています。TPS2376-Hは、TPS237Xファミリに比べて電流制限値が高く、放熱性能が強化されています。完全準拠PoEインターフェイスを実装していますが、より多くの電力を使用する非標準の実装にも対応します。100mのCAT-5ケーブルを介して最小52VのPSEで動作する場合には、26W PDを構築できます。TPS2376-Hは、定格100V、600mA対応、可変突入電流制限機能、自動リトライによるフォルト保護、真のオープンドレイン・パワーグッド機能を特長としています。
技術資料
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8 をすべて表示 | 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| * | データシート | TPS2376-H IEEE802.3af、600mA対応PDコントローラ データシート (Rev. B 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.B) | PDF | HTML | 2019年 11月 12日 |
| アプリケーション・ノート | PoE Powered Devices Debug Guidelines | PDF | HTML | 2021年 7月 19日 | |||
| アプリケーション・ノート | PoE PD Schematic Review Guidelines | PDF | HTML | 2021年 4月 29日 | |||
| アプリケーション・ノート | Lightning Surge Considerations for PoE Powered Devices | 2015年 4月 30日 | ||||
| EVM ユーザー ガイド (英語) | HPA244 EVM (Rev. B) | 2007年 9月 26日 | ||||
| Analog Design Journal | Current balancing in four-pair, high-power PoE applications | 2007年 5月 18日 | ||||
| アプリケーション・ノート | High Power PoE PD Using the TPS2375/77-1 | 2006年 2月 28日 | ||||
| アプリケーション・ノート | Wall Adapter Powers IEEE 802.3af Powered Device | 2006年 2月 1日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
TPS2376HEVM — TPS2376H 評価モジュール
TPS2376HEVM 評価ボードは、多くの PoE アプリケーションで必要な検出、分類、電流制限を含む包括的な PD ソリューションを示し、負荷に対して 5A、5V の絶縁型出力を提供します。
ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| HSOIC (DDA) | 8 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。