ZHCAA39C October 2020 – September 2023 ISO6720-Q1 , ISO6721 , ISO6721-Q1 , ISO6731 , ISO6740 , ISO6741 , ISO6741-Q1 , ISO6742 , ISO7021 , ISO7041 , ISO7131CC , ISO7140CC , ISO7140FCC , ISO7141CC , ISO7141FCC , ISO7142CC , ISO7142CC-Q1 , ISO721 , ISO721-Q1 , ISO721M , ISO721M-EP , ISO722 , ISO722-Q1 , ISO7220A , ISO7220A-Q1 , ISO7220B , ISO7220C , ISO7220M , ISO7221A , ISO7221A-Q1 , ISO7221B , ISO7221C , ISO7221C-HT , ISO7221C-Q1 , ISO7221M , ISO722M , ISO7230C , ISO7230M , ISO7231C , ISO7231C-Q1 , ISO7231M , ISO7240C , ISO7240CF , ISO7240CF-Q1 , ISO7240M , ISO7241A-EP , ISO7241C , ISO7241C-Q1 , ISO7241M , ISO7242C , ISO7242C-Q1 , ISO7242M , ISO7310-Q1 , ISO7310C , ISO7310FC , ISO7320-Q1 , ISO7320C , ISO7320FC , ISO7321-Q1 , ISO7321C , ISO7321FC , ISO7330-Q1 , ISO7330C , ISO7330FC , ISO7331-Q1 , ISO7331C , ISO7331FC , ISO7340-Q1 , ISO7340C , ISO7340FC , ISO7341-Q1 , ISO7341C , ISO7341FC , ISO7342-Q1 , ISO7342C , ISO7342FC , ISO7420 , ISO7420E , ISO7420FCC , ISO7420FE , ISO7420M , ISO7421 , ISO7421-EP , ISO7421A-Q1 , ISO7421E , ISO7421E-Q1 , ISO7421FE , ISO7520C , ISO7521C , ISO7631FC , ISO7631FM , ISO7640FM , ISO7641FC , ISO7641FM , ISO7710 , ISO7710-Q1 , ISO7720 , ISO7720-Q1 , ISO7721 , ISO7721-Q1 , ISO7730 , ISO7730-Q1 , ISO7731 , ISO7731-Q1 , ISO7740 , ISO7740-Q1 , ISO7741 , ISO7741-Q1 , ISO7741E-Q1 , ISO7742 , ISO7742-Q1 , ISO7760 , ISO7760-Q1 , ISO7761 , ISO7761-Q1 , ISO7762 , ISO7762-Q1 , ISO7763 , ISO7763-Q1 , ISO7810 , ISO7820 , ISO7821 , ISO7830 , ISO7831 , ISO7840 , ISO7841 , ISO7842 , ISOW7821 , ISOW7840 , ISOW7841 , ISOW7841A-Q1 , ISOW7842 , ISOW7843 , ISOW7844
3 通过 TDDB 测试预测隔离器寿命
时间依赖性电介质击穿 (TDDB) 测试是一种业界通用的加速应力测试，用于确定电介质寿命与电压间的函数关系。该测试会在器件的隔离栅上施加比典型工作电压更高的各种应力电压，并监测击穿电介质所需的时间。然后，将这些电压与时间的坐标绘制在适当的图上，并根据这些坐标推算更低的应力电压，从而确定适当工作电压下的预期电介质寿命。
图 3-1 将 TI 数字隔离器的 TDDB 图与常用的光耦合器进行了比较，可以了解到，光耦合器的平均 TDDB 线比数字隔离器的平均 TDDB 在对数坐标中低约 2 格（相当于 100 倍）。两种器件的 TDDB 寿命差异巨大的主要原因在于，它们所用绝缘材料的介电强度差异很大（请参阅表 1-1）。还可以发现，在给定的应力电压下，光耦合器的寿命因样片不同而有很大差别，而数字隔离器各个样片的寿命是一致的。
图 3-1 光电耦合器与 TI 数字隔离器的 TDDB 寿命