データシート
LMG1020
- GaNおよびシリコンFET用の超高速ローサイド・ゲート・ドライバ
- 最小入力パルス幅: 1ns
- 最高60MHzでの動作
- 標準2.5ns、最大4.5nsの伝搬遅延
- 400psの標準立ち上がりおよび立ち下がり時間
- 7Aピーク・ソース電流および5Aピーク・シンク電流
- 5Vの電源電圧
- UVLOおよび過熱保護
- 0.8mm×1.2mmのWCSPパッケージ
LMG1020デバイスはシングル、ローサイドのドライバで、LiDAR、タイム・オブ・フライト、顔認識などの高速アプリケーションや、ローサイド・ドライバを使用するあらゆる電力コンバータで、GaN FETおよびロジック・レベルMOSFETを駆動するよう設計されています。LMG1020は設計が単純なため、伝播遅延が2.5ナノ秒と非常に短く、最小で1ナノ秒のパルス幅に対応できます。ゲートと、OUTHおよびOUTLとの間に外付けの抵抗を接続することで、それぞれプルアップ・エッジとプルダウン・エッジの駆動強度を独立に設定できます。
ドライバには、過負荷またはフォルト状況に対応するため、低電圧誤動作防止(UVLO)および過熱保護(OTP)機能があります。
LMG1020は0.8mm×1.2mmのWCSPパッケージを使用しており、ゲート・ループのインダクタンスが最小化され、高周波数のアプリケーションで電力密度を最大化できます。
技術資料
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評価ボード
LMG1020EVM-006 — LMG1020 GaN ローサイド・ドライバ + GaN FET LiDAR の評価モジュール
The LMG1020EVM-006 is a small, easy-to-use power stage for LIDAR laser drive. The EVM includes an integrated resistive load, (laser not included) and takes a short-pulse input that can either be buffered (and shortened further), or passed directly to the power stage. The board can demonstrate (...)
ユーザー ガイド: PDF
シミュレーション・モデル
LMG1020 TINA-TI Reference Design (Rev. A)
SNOM619A.TSC (66 KB) - TINA-TI Reference Design
シミュレーション・モデル
LMG1020 TINA-TI Transient Spice Model (Rev. A)
SNOM620A.ZIP (43 KB) - TINA-TI Spice Model
シミュレーション・ツール
PSPICE-FOR-TI — TI Design / シミュレーション・ツール向け PSpice®
PSpice® for TI は、各種アナログ回路の機能評価に役立つ、設計とシミュレーション向けの環境です。設計とシミュレーションに適したこのフル機能スイートは、Cadence® のアナログ分析エンジンを使用しています。PSpice for TI は無償で使用でき、アナログや電源に関する TI の製品ラインアップを対象とする、業界でも有数の大規模なモデル・ライブラリが付属しているほか、選択された一部のアナログ動作モデルも利用できます。
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
設計とシミュレーション向けの環境である PSpice for TI (...)
リファレンス・デザイン
TIDA-01573 — LiDAR 向けナノ秒レーザー・ドライバのリファレンス・デザイン
LiDAR (Light Distancing And Ranging、光を使用した検出と距離測定) を採用したこのリファレンス・デザインは、パルス幅の狭いアプリケーションで LMG1020 と LMG1025-Q1 の各ローサイド・ゲート・ドライバを使用する方法を紹介します。これらのデバイスは単一の FET を駆動し、100W 以上の出力で、パルス幅が 1.5ns 未満のレーザー光学パルスを生成することができます。
| パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
|---|---|---|
| DSBGA (YFF) | 6 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報：
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。