SN74HCS03
- Wide operating voltage range: 2 V to 6 V
- Schmitt-trigger inputs allow for slow or noisy input signals
- Low power consumption
- Typical ICC of 100 nA
- Typical input leakage current of ±100 nA
- ±7.8-mA output drive at 5 V
- Extended ambient temperature range: –40°C to +125°C, TA
This device contains four independent 2-input NAND gates with open-drain outputs and Schmitt-trigger inputs. Each gate performs the Boolean function Y = A ● B in positive logic.
技術資料
結果が見つかりませんでした。検索条件をクリアしてから、再度検索を試してください。
1 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
---|---|---|---|---|---|---|
* | データシート | SN74HCS03 Quadruple 2-Input Positive-NAND Gates データシート (Rev. A) | 2020年 10月 22日 |
設計および開発
その他のアイテムや必要なリソースを参照するには、以下のタイトルをクリックして詳細ページをご覧ください。
評価ボード
14-24-LOGIC-EVM — 14 ピンから 24 ピンの D、DB、DGV、DW、DYY、NS、PW の各パッケージに封止した各種ロジック製品向けの汎用評価基板
14-24-logic-EVM 評価基板は、14 ピンから 24 ピンの D、DW、DB、NS、PW、DYY、DGV の各パッケージに封止した各種ロジック デバイスをサポートする設計を採用しています。
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
---|---|---|
SOIC (D) | 14 | Ultra Librarian |
TSSOP (PW) | 14 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点