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SN74S140

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2 チャネル、4 入力、4.75V ～ 5.25V バイポーラ NAND ゲート

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製品詳細

Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 60 IOH (max) (mA) -40 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
Technology family S Supply voltage (min) (V) 4.75 Supply voltage (max) (V) 5.25 Number of channels 2 Inputs per channel 4 IOL (max) (mA) 60 IOH (max) (mA) -40 Input type Bipolar Output type Push-Pull Features Very high speed (tpd 5-10ns) Data rate (max) (Mbps) 50 Rating Catalog Operating temperature range (°C) 0 to 70
PDIP (N) 14 181.42 mm² 19.3 x 9.4 SOIC (D) 14 51.9 mm² 8.65 x 6
  • Package Options Include Ceramic Chip Carriers and Flat Packages in Addition to Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 
  • Package Options Include Ceramic Chip Carriers and Flat Packages in Addition to Plastic and Ceramic DIPs
  • Dependable Texas Instruments Quality and Reliability

 

These devices contain two independent 4-input positive-NAND 50-ohm line drivers. They perform the Boolean function Y = ABCD\.

The SN54S140 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74S140 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 

These devices contain two independent 4-input positive-NAND 50-ohm line drivers. They perform the Boolean function Y = ABCD\.

The SN54S140 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74S140 is characterized for operation from 0°C to 70°C.

 
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SN74ACT00 アクティブ TTL 互換 CMOS 入力、4 チャネル、2 入力、4.5V ～ 5.5V NAND ゲート Voltage range (4.5V to 5.5V), average drive strength (24mA), average propagation delay (8ns)

技術資料

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* データシート Dual 4-Input Positive-NAND 50-Ohm Line Drivers データシート 1988年 3月 1日

購入と品質

記載されている情報：
  • RoHS
  • REACH
  • デバイスのマーキング
  • リード端子の仕上げ / ボールの原材料
  • MSL 定格 / ピーク リフロー
  • MTBF/FIT 推定値
  • 使用原材料
  • 認定試験結果
  • 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報：
  • ファブの拠点
  • 組み立てを実施した拠点

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