CSD17585F5
ゲートの ESD (静電気放電) 保護機能搭載、0.8mm x 1.5mm の LGA 封止、シングル、33mΩ、30V、N チャネル NexFET™ パワー MOSFET
データシート
CSD17585F5
- 低いオン抵抗
- 非常に低い Qg および Qgd
- 極めて小さいフットプリント
- 1.53mm × 0.77mm
- 薄型
- 高さ 0.36mm
- ESD 保護ダイオード搭載
- HBM 定格 4kV 超
- CDM 定格 2kV 超
- 鉛およびハロゲン不使用
- RoHS 準拠
この 30V、22mΩ、N チャネル FemtoFET™ MOSFET テクノロジは、さまざまなハンドヘルドおよびモバイル・アプリケーション向けに、フットプリントを最小化するよう設計され、最適化されています。標準の小信号 MOSFET をこのテクノロジに置き換えることで、フットプリント・サイズを大幅に低減できます。
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技術資料
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10 をすべて表示 種類 | タイトル | 最新の英語版をダウンロード | 日付 | |||
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* | データシート | CSD17585F5 30V N チャネル FemtoFET™ MOSFET データシート (Rev. C 翻訳版) | PDF | HTML | 英語版 (Rev.C) | PDF | HTML | 2022年 9月 2日 |
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その他の技術資料 | WCSP Handling Guide | 2019年 11月 7日 | ||||
EVM ユーザー ガイド (英語) | Ultra-Small Footprint N-Channel FemtoFET™ MOSFET Test EVM | 2017年 12月 6日 | ||||
設計ガイド | FemtoFET Surface Mount Guide (Rev. D) | 2016年 7月 7日 |
設計および開発
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評価ボード
CSD1FNCHEVM-889 — FemtoFET N チャネル評価モジュール
This FemtoFET N-ch EVM includes seven daughter cards, each card containing a different FemtoFET N-ch part number. The daughter cards allow the engineer to easily connect and test these tiny devices. The seven FemtoFETs range from 12V to 40V Vds, and the size of the devices include F3 (...)
ユーザー ガイド: PDF
サポート・ソフトウェア
Quickly trade off size, cost and performance to select the optimal MOSFET based on application conditions.
サポート・ソフトウェア
NONSYNC-BOOST-FET-LOSS-CALC — NONSYNC BOOST FET LOSS Calculator
MOSFET power loss calculator for non-synchronous boost converter
サポート対象の製品とハードウェア
製品
MOSFET
計算ツール
FET-SOA-CALC-SELECT — MOSFET SOA calculation and selection tool
Excel based FET SOA calculation and selection tool
サポート対象の製品とハードウェア
製品
MOSFET
計算ツール
SYNC-BUCK-FET-LOSS-CALC — Power Loss Calculation Tool for Synchronous Buck Converter
Quickly trade off size, cost and performance to select the optimal MOSFET based on application conditions.
サポート対象の製品とハードウェア
製品
MOSFET
パッケージ | ピン数 | CAD シンボル、フットプリント、および 3D モデル |
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PICOSTAR (YJK) | 3 | Ultra Librarian |
購入と品質
記載されている情報:
- RoHS
- REACH
- デバイスのマーキング
- リード端子の仕上げ / ボールの原材料
- MSL 定格 / ピーク リフロー
- MTBF/FIT 推定値
- 使用原材料
- 認定試験結果
- 継続的な信頼性モニタ試験結果
記載されている情報:
- ファブの拠点
- 組み立てを実施した拠点
推奨製品には、この TI 製品に関連するパラメータ、評価基板、またはリファレンス デザインが存在する可能性があります。